[发明专利]电源输出短路的测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种电源输出短路的测试装置，其特征在于，包括：

控制信号生成模块，用于根据测试需求提供频率和占空比可调的多个驱动控制信号；

待测电源；

开关模块，包括多个开关管，所述多个开关管对应连接于待测电源的输出管脚与供电端和接地端之间，接收所述多个驱动控制信号，并根据所述多个驱动控制信号连通/断开所述待测电源的输出管脚与供电端和接地端之间的电连接，

其中，不同频率和占空比的所述多个驱动控制信号控制所述开关模块实现所述待测电源的输出管脚与供电端和接地端之间不同次数和不同每次短路持续时间的短路连接。

2.根据权利要求1所述的电源输出短路的测试装置，其特征在于，所述待测电源包括：

电源管脚，接收供电电压；

接地管脚，与接地端连接；

第一输入管脚，接收所述供电电压；

第二输入管脚，与接地端连接；

第一输出管脚，通过所述开关模块与所述接地端连接；

第二输出管脚，通过所述开关模块与所述供电端连接。

3.根据权利要求2所述的电源输出短路的测试装置，其特征在于，所述开关模块包括：

第一开关管，第一通路端与所述待测电源的第一输出管脚连接，第二通路端与所述接地端连接，控制端接收所述多个驱动控制信号中的第一驱动控制信号；

第二开关管，第一通路端与所述待测电源的第二输出管脚连接，第二通路端与所述供电端连接，控制端接收所述多个驱动控制信号中的第二驱动控制信号。

4.根据权利要求1和3中任一项所述的电源输出短路的测试装置，其特征在于，所述多个驱动控制信均为方波信号。

5.根据权利要求3所述的电源输出短路的测试装置，其特征在于，所述第一开关管和所述第二开关管均为高压低阻抗的NMOS晶体管。

6.根据权利要求1所述的电源输出短路的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：

示波器，与所述待测电源的输出管脚连接，用于实时观测所述待测电源的输出电流。

7.一种电源输出短路的测试方法，其特征在于，包括：

由控制信号生成模块提供频率和占空比可调的多个驱动控制信号；

由开关模块根据所述多个驱动控制信号导通/关断，以连通/断开待测电源的输出管脚与供电端和接地端之间的电连接；

根据不同的测试需求调节所述多个驱动控制信号的频率和占空比，以控制所述开关模块实现所述待测电源的输出管脚与供电端和接地端之间不同次数和不同每次短路持续时间的短路连接；以及

采用示波器实时观测所述待测电源的输出电流。

8.根据权利要求7所述的电源输出短路的测试方法，其特征在于，所述开关模块包括：第一开关管和第二开关管，

其中，所述第一开关管和所述第二开关管均为高压低阻抗的NMOS晶体管。

9.根据权利要求7所述的电源输出短路的测试方法，其特征在于，所述多个驱动控制信均为方波信号。

10.根据权利要求7所述的电源输出短路的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

采用温度感测器实时监测测试过程中所述待测电源的温度，

在所述待测电源的温度超过预设值，且所述待测电源的输出电压/电流在所述开关模块处于关断状态时未恢复至正常状态的情况下，降低所述多个驱动控制信号的频率。