[发明专利]一种基于纹理丘沟特征计算皮肤图像纹理属性的方法在审

专利信息
申请号: 202010473377.4 申请日: 2020-05-29
公开(公告)号: CN111724348A 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 张沁;邱显荣 申请(专利权)人: 精诚工坊电子集成技术(北京)有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理有限公司 11360 代理人: 黄凤茹
地址: 100048 北京市海*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 纹理 特征 计算 皮肤 图像 属性 方法
【权利要求书】:

1.一种基于纹理丘沟特征计算皮肤图像纹理属性的方法,对皮肤图像进行灰度化,计算得到三值化丘沟图像,再计算获得纹理属性特征值;包括如下步骤:

A.读取彩色皮肤图像,获取图像的RGB值;

B.对皮肤图像进行灰度化并计算得到灰度图像均值,具体步骤如下:

B1.彩色图像灰度化,得到图像中每个像素的灰度化数值及灰度图像img1;

具体对皮肤彩色图像每个像素RGB三个通道的颜色分量求平均,该平均值为像素的灰度化数值;彩色图像灰度化后的图像为灰度图像img1;

B2.计算得到灰度图像均值avg:对灰度图像img1全部像素点的灰度化数值求平均值,即得到灰度图像均值avg;

C.计算得到三值化丘沟图像img2,将图像中的像素点识别为背景、丘和沟中的一种,其中,属性为背景的值为127,属性为丘的值为255,属性为沟的值为0;包括如下操作:

C1.将img2所有像素的初始值设置为背景色,即取值为127;

C2.分别处理灰度图像img1的每列像素:对img1上的每一列像素,计算该列像素的所有丘、沟特征点,并在img2上进行标识;具体操作如下:

C21.设置皮肤背景色灰度值阈值范围span,当皮肤灰度图像均值avg在灰度值阈值范围则为皮肤背景色;

C22.设置步长step,遍历时每隔step个像素点采样一个像素点;

C23.按顺序并根据步长step遍历灰度图像img1的每列像素,确定像素点p的属性,,将图像中的像素点识别为背景、丘和沟中的一种;具体包括如下操作:

C231计算像素点p的灰度值g与灰度图像均值avg的差,得到灰度值v,即v=g-avg;

C232确定一段丘像素的起始点:

寻找第一个v值大于span的像素点p,标识该像素点p为s1,s1即为该列中一段连续丘像素的起始点,赋值img2上s1点的相应像素值为255,表示像素属性为丘;

C233确定一段丘像素结束点;

从s1点开始,寻找第一个v值小于span的像素点p,此时的p点为一段丘像素的结束点,标识该像素点p为t1;即将该列像素点从s1点到t1点的这段像素识别为丘像素;

C234确定一段沟像素的起始点;

从t1点,寻找第一个使得v值小于-span的像素点p,标识像素点p为u1,u1点即为该列中一段沟像素的起始点,赋值img2上点u1的相应像素值为0,即识别为沟像素;

C235确定一段沟像素结束点;

由u1点开始,寻找第一个v值大于-span的像素点p,此时的p点为该段沟像素的结束点,标识该像素点p为点w1;即将该列像素点从u1点到w1点的这段像素识别为沟像素;

计算该段沟像素中u1、w1两点间的距离w,作为沟的宽度并保存;

求得该段沟像素中最小v值的点H,作为沟最深点;

求得该段沟像素对应的灰度图像img1上的所有像素灰度值的均值d,作为这段沟像素的深度属性并保存;

C24.遍历灰度图像img1的每列像素,即得到灰度图像img1中所有丘像素段和沟像素段;进一步计算相邻两个沟最深点H的距离s,作为两个相邻沟的间距属性并保存;

C3.灰度图像img1所有列遍历完成后,得到三值化图像img2:img2中的像素点值为127表示背景像素,值为255表示丘像素,值为0表示沟像素;

D.计算得到纹理属性特征值,包括宽度、深度、疏密度;

通过上述步骤,即实现基于纹理丘沟特征计算获取皮肤图像的纹理属性。

2.如权利要求1所述基于纹理丘沟特征计算皮肤图像纹理属性的方法,其特征是,步骤D计算纹理属性特征值,具体包括:

D1.计算纹理宽度属性值:对所有w值求平均,得到的平均值即为纹理宽度属性width;

D2.计算纹理深度属性值:对所有d值求平均,得到平均值d1;

纹理深度属性Depth=avg-d1-span;Depth值为正数,数值越大,纹理越深;

D3.计算纹理疏密属性值:对所有s值求平均,得到平均值s1,s1即为纹理间距离;

纹理疏密程度density=1/s1;density值越大,表示纹理越密集,反之越稀疏。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精诚工坊电子集成技术(北京)有限公司,未经精诚工坊电子集成技术(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010473377.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top