[发明专利]混合质谱系统在审
| 申请号： | 202010474258.0 | 申请日： | 2020-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN112017939A | 公开（公告）日： | 2020-12-01 |
| 发明（设计）人： | 梅尔文·帕克;马克·里奇韦;克雷格·怀特豪斯;安德列亚斯·布雷肯费尔德 | 申请（专利权）人： | 布鲁克道尔顿有限公司 |
| 主分类号： | H01J49/00 | 分类号： | H01J49/00;H01J49/16;H01J49/24 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 张娜;顾丽波 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 混合 谱系 | ||
1.一种质谱系统，包括离子源、第一RF漏斗、离子迁移率分析仪和质量分析仪，其中，所述RF漏斗与所述离子迁移率分析仪非共线布置。
2.根据权利要求1所述的质谱系统，其中，所述第一RF漏斗的轴与所述离子迁移率分析仪的轴之间的角度大于10°，优选地，大于45°，最优选地，大约90°。
3.根据权利要求1所述的质谱系统，其中，所述第一RF漏斗和所述离子迁移率分析仪位于两个不同的真空室中。
4.根据权利要求3所述的质谱系统，其中，所述第一RF漏斗的真空室中的压力高于所述离子迁移率分析仪的真空室中的压力。
5.根据权利要求4所述的质谱系统，其中，所述第一RF漏斗的真空室中的压力高于100Pa，优选地，高于500Pa，更优选地，高于1000Pa，特别是在500Pa与5000Pa之间。
6.根据权利要求1所述的质谱系统，还包括第二RF漏斗，其位于所述离子迁移率分析仪的入口处，并且与所述离子迁移率分析仪共线布置。
7.根据权利要求6所述的质谱系统，其中，所述离子迁移率分析仪为TIMS分析仪。
8.根据权利要求7所述的质谱系统，还包括RF多极，其位于所述第一RF漏斗与所述第二RF漏斗之间。
9.根据权利要求8所述的质谱系统，其中，所述RF多极为RF四极、RF六极、RF八极和RF离子隧道中的一种。
10.根据权利要求8所述的质谱系统，其中，所述RF多极被操作为四极质量过滤器、质量迁移率四极过滤器、离子引导器、破碎池、活化池和离子阱中的一种。
11.根据权利要求8所述的质谱系统，还包括光源和光学器件，所述光源用于产生光，所述光学器件用于将所述光引入所述RF多极中，优选地，引入所述RF多极的出口侧。
12.根据权利要求11所述的质谱系统，其中，所述光源为激光、准分子灯、发光二极管和手电筒中的一种。
13.根据权利要求11所述的质谱系统，其中，所述光包括真空紫外光子、紫外光子和红外光子中的一种。
14.根据权利要求8所述的质谱系统，还包括额外的TIMS分析仪，其位于所述第一RF漏斗与所述RF多极之间，并且与所述第一RF漏斗共线布置。
15.根据权利要求14所述的质谱系统，还包括位于两个TIMS分析仪之间的离子门。
16.根据权利要求14所述的质谱系统，其中，所述TIMS分析仪和/或所述额外的TIMS分析仪包括用于俘获的积累区域和迁移率分离区域。
17.根据权利要求14所述的质谱系统，其中，所述第一RF漏斗和所述额外的TIMS分析仪位于第一真空室中，并且所述TIMS分析仪位于第二真空室中。
18.根据权利要求17所述的质谱系统，其中，所述第一真空室中的压力高于所述第二真空室中的压力。
19.根据权利要求18所述的质谱系统，其中，所述第一真空室中的压力高于100Pa，优选地，高于1000Pa，更优选地，在500Pa与5000Pa之间。
20.根据权利要求14所述的质谱系统，其中，RF多极完全位于所述第一室或所述第二室中，或者从所述第一室过渡到所述第二室中。
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