[发明专利]一种单板异常检测方法、装置、终端、系统和存储介质在审

专利信息
申请号: 202010479159.1 申请日: 2020-05-29
公开(公告)号: CN113742143A 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 齐帆 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 薛祥辉
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 单板 异常 检测 方法 装置 终端 系统 存储 介质
【说明书】:

根据本发明实施例提供的一种单板异常检测方法、装置、终端、系统和存储介质,通过在单板检测过程中,将单板与至少一个连接器连接,当单板出现目标参数值异常时,获取每个与所述单板连接的连接器的信号对应的反馈系数,计算反馈系数的第二离散度,并在获取第一离散度后,将第一离散度与第二离散度进行比较,根据比较结果确定单板的目标参数值异常是否由单板对应的连接器的接触问题所导致,在某些实施过程中可实现包括但不限于缩短单片检测过程中的故障定位时间的技术效果。

技术领域

本发明实施例涉及但不限于集成数字通信技术领域,具体而言,涉及但不限于一种单板异常检测方法、装置、终端、系统和存储介质。

背景技术

随着电子行业技术的发展,特别是通信技术的发展,由于宽带需求和业务规模的提升,业内对数据的高效传输提出了更高的要求,而在高速率通道下的数据传输中,保证数据的稳定是实现高效数据传输关键。由于高速SerDes(串行器/解串器)的串行通信技术具有信道容量高、系统成本低以及传输速度快等特点,这使得基于SerDes的串行通信技术逐渐成为主流的高速数据通信技术。

例如对于目前比较前沿的56G高速SerDes,PAM4码型决定了其对干扰更为敏感,尤其是回损带来的影响。在实际生产及单板筛选过程中,由于单板之间,以及单板与背板之间的连接器接触不良导致出厂测试时56G SerDes BER(Bit error Ratio比特出错概率)超标的情况经常发生,而相关技术中判断此类故障需要人工插拔单板进行验证,判断是否是由于连接器的接触问题导致的SerDes BER超标问题,由于单板启动及芯片初始化时间普遍较长,并且测试工序复杂,因此人工插拔单板进行验证会浪费大量时间,影响产能。

发明内容

本发明实施例提供的一种单板异常检测方法、装置、终端、系统和存储介质,主要解决的技术问题是:相关技术中,在单板检测时,采用人工插拔单板来判断单板通信参数异常是否是由连接器的接触问题导致的,由于单板启动时间较长且测试工序复杂,导致花费大量验证时间,影响产能。

为解决上述技术问题,本发明实施例提供一种单板异常检测方法,包括:

将单板与至少一个连接器连接,当单板出现目标参数值异常时,获取每个与单板连接的连接器的信号对应的反馈系数;

计算反馈系数的第二离散度,并获取第一离散度;

将第二离散度与第一离散度进行比较,根据比较结果确定单板的目标参数值异常是否由单板对应的连接器的接触问题所导致。

在本发明的一种实施例中,根据比较结果确定单板的目标参数值异常是否由单板对应的连接器的接触问题导致包括:

当第二离散度大于第一离散度时,判定单板的目标参数值异常是由单板对应的连接器的接触问题所导致。

在本发明的一种实施例中,在将单板与至少一个连接器连接之后,还包括:

对所述连接器对应信号的高频分量进行放大,低频分量进行衰减,均衡信号的频谱;

根据信号的眼图,调整信号对应的反馈系数。

在本发明的一种实施例中,获取第一离散度包括:

获取至少两块单板对应的连接器的信号,其中每块单板连接有至少一个连接器;

获取每个与所述单板连接的连接器的信号对应的反馈系数;

根据获取到的所有反馈系数,计算第一离散度。

在本发明的一种实施例中,获取第一离散度包括:

获取预设的离散度作为第一离散度。

本发明实施例还提供一种单板异常检测装置,包括:

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