[发明专利]电芯涂胶检测方法、装置和电子设备

说明书

本申请提供了一种电芯涂胶检测方法、装置和电子设备，其中，该方法包括：从待检测图像中确定目标区域，待检测图像中包括目标电芯的电芯图像；遍历目标区域中的各个像素点的像素值，以选出像素连通区域集；根据像素连通区域集中各个相邻的像素连通区域之间的距离，确定目标电芯的断胶长度；根据断胶长度判定目标电芯的涂胶检测结果。

技术领域

本发明涉及电池检测技术领域，具体而言，涉及一种电芯涂胶检测方法、装置和电子设备。

背景技术

影响电芯的好坏的因素很多，其中一项影响因素是电芯上涂的热熔胶的好坏程度。但是目前的电芯的热熔胶的检测方式是通过将需要检测的电芯图像与标准图像进行对比相似度，以确定电芯的好坏。但是，在涂胶过程中不确定因素太多，例如，热熔胶的溅射，可能会导致一些合格的电芯得到的图像与标准图像也存在较大的差距，从而导致胶的检查的准确性会受到不确定性因素影响。

发明内容

本发明的目的在于提供一种电芯涂胶检测方法、装置和电子设备，能够解决电芯涂胶检测的问题。

第一方面，本发明实施例提供一种电芯涂胶检测方法，包括：

从待检测图像中确定目标区域，所述待检测图像中包括目标电芯的电芯图像；

遍历所述目标区域中的各个像素点的像素值，以选出像素连通区域集；

根据所述像素连通区域集中各个相邻的像素连通区域之间的距离，确定所述目标电芯的断胶长度；

根据所述断胶长度判定所述目标电芯的涂胶检测结果。

在可选的实施方式中，所述遍历所述目标区域中的各个像素点的像素值，以选出像素连通区域集，包括：

遍历所述目标区域中的各个像素点的像素值，从所述目标区域中选出多个初始像素连通区域，其中，每个初始像素连通区域为连续的像素区域；

从多个所述初始像素连通区域中筛选出区域面积大于第一预设值的像素区域，以得到像素连通区域集。

本申请实施例提供的电芯涂胶检测方法，通过将区域面积不大于第一预设值的像素区域剔除，从而可以减少一些小面积的胶点对检测的影响，从而可以提高涂胶检测的准确性。

在可选的实施方式中，所述根据所述像素连通区域集中各个相邻的像素连通区域之间的距离，确定出所述目标电芯的断胶长度，包括：

确定出所述像素连通区域集中每个像素连通区域的最小外接矩形；

根据相邻的像素连通区域对应的最小外接矩形的顶点的位置，确定出相邻的像素连通区域之间的距离；

将所有相邻的像素连通区域之间的距离之和，确定为所述目标电芯的断胶长度。

在可选的实施方式中，所述根据相邻的像素连通区域对应的最小外接矩形的顶点的位置，确定出相邻的像素连通区域之间的距离，包括：

确定相邻的像素连通区域对应的最小外接矩形的各个顶点与预设基准线的目标距离；

根据所述目标距离确定出相邻的像素连通区域之间的距离。

本申请实施例提供的电芯涂胶检测方法，通过采用外接矩形的方式确定出顶点位置，以进一步地确定涂胶的中对应的断胶长度，从而可以减少对不规则形状的计算，从而可以提高涂胶检测的效率。

在可选的实施方式中，所述根据所述断胶长度判定所述目标电芯的涂胶检测结果，包括：

根据所述像素连通区域集计算出所述目标电芯的胶线长度；

根据所述胶线长度和所述断胶长度判定所述目标电芯的涂胶检测结果。