[发明专利]一种校验精准型过零检测方法

权利要求书

1.一种校验精准型过零检测方法，其特征在于：过零检测方法分为软硬两部分模块，主要包括硬件鉴相电路、Clark变换、Park变化、PI控制器和双同步坐标系解耦算法；

其中，过零检测方法包括以下步骤：

步骤一：将三相交流电A、B、C输入硬件鉴相电路，硬件鉴相电路跨接于继电器两端，继电器为断开状态，以A相为例，输入信号分别为A_IN与A_OUT,分别通过150KΩ大功率电阻连接到整流桥MB6S，整流完成后通过光耦TLP383进行隔离输出，后端通过电阻与三极管组合电路输出检测过零脉冲，B、C相同理，MCU通过判断A、B、C三相过零脉冲的时序，即可完成相序鉴别；

步骤二：相序鉴别完成之后，分别对A、B、C三相进行Clark变换；

步骤三：Clark变换完成之后进行Park变换两相旋转坐标系是通过使Ud轴与U的相位一致，并同时一起旋转的坐标系，其中Uq与Ud垂直，Uq超前Ud90°，在三相电路中，与U同相位的电流矢量与U的乘积即可表示为有功，而Q轴与U成90度，因此Q轴用作表示无功；

步骤四：在直流电压量中分别对正序分量和负序分量进行滤波处理，得到Q轴分量，对Q轴进行PI控制，继而计算出频率以及角度值；

步骤五：硬件鉴相电路检测的过零点与软件检测的过零点结合使用，共同决定最终零点位置。

2.根据权利要求1所述一种校验精准型过零检测方法，其特征在于，所述硬件鉴相电路由百K级大功率电阻、整流桥、光耦器件以及三极管组成。

3.根据权利要求1所述一种校验精准型过零检测方法，其特征在于，所述硬件鉴相电路主要用来鉴别相序以及一级过零检测。

4.根据权利要求1所述一种校验精准型过零检测方法，其特征在于，所述Chark变换主要是将三相静止坐标系交流电压量转换到两相静止坐标系。

5.根据权利要求1所述一种校验精准型过零检测方法，其特征在于，所述Park变换主要是将两相静止坐标系转换到两相旋转坐标系的直流电压量。

6.根据权利要求1所述一种校验精准型过零检测方法，其特征在于，所述PI控制器主要是对Q轴分量进行PI控制，继而计算出电网频率以及角度，从而得到过零点，该过零点检测为二级过零点。