[发明专利]纸张数量检测方法、系统、终端及其存储介质

权利要求书

1.一种纸张数量检测方法，其特征是，包括：

获取若干实际采样数据，所述实际采样数据为极板间电容值所对应的电压输出幅值，将若干实际采样数据定义为实际采样数据序列；

根据实际采样数据序列以及所预设的具有未知拟合参数的拟合函数，将实际采样数据序列带入拟合函数以获取未知拟合参数所对应的数值，形成标定拟合函数；

根据实际采样数据序列以及标定拟合函数所对应的拟合曲线，获取实际采样数据序列中每个实际采样数据至标定拟合函数所对应拟合曲线之间的最小距离以形成偏差量数据，将若干偏差量数据定义为偏差量数据序列，所述实际采样数据序列与偏差量数据序列一一对应；

根据所预设的权重与偏差量数据之间的映射关系依次获取每个实际采样数据所对应的权重，将若干实际采样数据以及对应权重进行加权平均处理以形成加权平均数据；

根据已经完成训练的加权平均数据与纸张数量之间的映射关系以调取该加权平均数据所对应的纸张数量数据；

关于标定拟合函数的获取方法如下：

将实际采样数据序列中的实测值表示为(x_i,y_i)，i＝1,2,...n；其中，x_i为实际采样数据序列中的序列标号，y_i为序列标号所对应的实际采样数据；

所预设的具有未知拟合参数的拟合函数的公式具体如下：

f(x)＝a₀+a₁x+a₂x²；其中，x为对应的序列标号；f(x)为在序列标号x处的拟合值；a₀、a₁、a₂为未知的拟合参数；

根据实际采样数据序列中的实测值以及拟合函数所对应的拟合值以获取偏差值，具体公式如下：

其中，L为对应实测值与拟合值之间的偏差值；

获取偏差值的均方值，具体公式如下：

将上式展开后求偏导，化简后得到矩阵形式如下：

利用待定系数法算得a₀、a₁、a₂的值，将算得的a₀、a₁、a₂分别定义为A₀、A₁、A₂；

则具体标定拟合函数的公式具体如下：

f(x)＝A₀+A₁x+A₂x²；

关于形成偏差量数据的方法如下：

根据标定拟合函数所对应的拟合曲线以定义该拟合曲线上P点的坐标表示为(x，A₀+A₁x+A₂x²)；定义实际采样数据序列中的A点的坐标表示为(m，n)；

A点至拟合曲线的距离AP的公式具体如下：

依次选取拟合曲线上的坐标以获取A点与拟合曲线之间的距离AP，将距离AP中的最小值作为A点的偏差量数据；

以步长为0.1依次获取在所预设的区间范围m-3xm+3内的拟合曲线上的拟合值；将拟合曲线上对应点的坐标依次代入公式以获取A点距离拟合曲线的距离AP；

选择所得到的距离AP中的最小值作为A点至拟合曲线的偏差量数据。

2.根据权利要求1所述的纸张数量检测方法，其特征是，将实际采样数据序列经过剔除干扰值的预处理过程。

3.根据权利要求2所述的纸张数量检测方法，其特征是，将实际采样数据序列进行预处理的方法如下：

将实际采样数据序列中的实际采样数据依次进行由小至大的排序以形成排序采样数据序列；

根据排序采样数据序列以去除若干个偏差较大的实际采样数据，更新实际采样数据序列。