[发明专利]一种用于强湍流校正的太阳自适应光学系统有效
申请号: | 202010487954.5 | 申请日: | 2020-06-02 |
公开(公告)号: | CN111562022B | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 饶长辉;张兰强;饶学军;刘洋毅;孔林;鲍华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01J9/00 | 分类号: | G01J9/00;G02B27/00 |
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地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 湍流 校正 太阳 自适应 光学系统 | ||
本发明公开了一种用于强湍流校正的太阳自适应光学系统,包括倾斜镜、变形镜、精跟踪波前传感器、相关夏克‑哈特曼波前传感器以及波前控制器。针对部分强湍流条件下对太阳进行高分辨力成像观测的需求,从探测波长、校正阶次以及自适应光学系统本身结构入手,提升自适应光学系统在极端湍流强度条件下的校正能力,满足城市科普等应用需求。在探测方面,通过使用长波探测,降低强湍流的影响;在系统参数方面,分析校正对象时空特性,增加探测和校正单元,使之与湍流强度相匹配。在控制算法和校正阶次方面,采用模式法控制以提高系统闭环校正稳定性的基础上,基于校正精度要求的分析,进行高阶探测、低阶校正的方法,进一步确保系统稳定闭环工作。
技术领域
本发明涉及一种太阳自适应光学系统,属于自适应光学技术领域,具体涉及一种用于强湍流校正的太阳自适应光学系统,用于太阳观测过程中,极端湍流强度(大气相干长度在3~5厘米)所致的光波前畸变的探测和校正。
背景技术
自适应光学系统通过对大气湍流引起的波前畸变进行实时补偿校正,使大口径望远镜获得理想的成像能力,是当前大口径天文望远镜的必备设备。在太阳观测领域,虽然太阳望远镜口径较小,但是由于白天地球受到太阳辐射的影响,湍流较夜间观测更强,且更加多变,因此也需要自适应光学系统恢复大口径望远镜高分辨力成像能力。
众所周知,对于太阳自适应光学系统而言,由于需要利用太阳大气本身结构特征作为信标进行波前提取,因此,为了保证一定的探测精度,通常而言,太阳自适应光学系统的设计和工作都存在着大气条件的下限,即需要大气湍流满足不低于8cm(ThomasR.Rimmele and Jose Marino,solar adaptive optics,Living Rev.Solar Phys.,8,2,2011)。一些系统虽然对控制算法等进行改进,可以适当降低系统工作的湍流条件下限,但是对于极端湍流条件下,传统意义上的太阳自适应光学系统均无法工作。
一些太阳观测的站址虽然具有较好的平均视宁度,其大气视宁度强度多变,有时也会出现非常差的瞬时大气视宁度;此外,随着人类活动的范围越来越大,早期天文观测站址的大气条件也在受到越来越多的影响。部分大气湍流条件即使配备传统太阳自适应光学系统,也无法进行太阳高分辨力观测。另一方面,随着近几年来国家对科普工作的大力推广,科普观测对传统自适应光学技术提出了新需求;由于科普的面向大众的特殊性,无法在偏远地区选择大气条件较好的区域作为站址,城市附近由于人类活动的影响,太阳望远镜都面临着比较极端的湍流条件。为了上述应用需求,如何确保太阳自适应光学系统在极端湍流条件下可以稳定工作,是自适应光学技术面临的新挑战。
发明内容
本发明要解决的技术问题为:针对部分强湍流条件下的对太阳进行高分辨力成像观测的需求,从探测波长、校正阶次以及自适应光学系统本身结构入手,提升自适应光学系统在极端湍流强度条件下的校正能力,满足城市科普等应用需求。在波前探测方面,通过使用长波探测,降低强湍流的影响;在系统参数方面,分析校正对象时空特性,增加探测和校正单元,使之与湍流强度相匹配;在控制算法和校正阶次方面,采用模式法控制以提高系统闭环校正稳定性的基础上,基于校正精度要求的分析,进行高阶探测、低阶校正的方法,进一步确保系统稳定闭环工作。
本发明解决上述技术问题采用的技术方案为:一种用于强湍流校正的太阳自适应光学系统,由准直镜1、倾斜波前校正器2、高阶波前校正器3、第一分光镜4、精跟踪波前传感器5、精跟踪波前校正控制器6、第二分光镜7、成像子系统8、相关夏克-哈特曼波前传感器9以及高阶波前校正控制器10组成。倾斜波前校正器2、精跟踪波前传感器5和精跟踪波前校正控制器6组成对大气湍流进行倾斜校正的闭环子系统。高阶波前校正器3、相关夏克-哈特曼波前传感器9以及高阶波前校正控制器10组成对大气湍流进行高阶像差校正的闭环子系统。经过望远镜主焦点的光,首先由准直镜1进行准直,随后进入倾斜波前校正器2和高阶波前校正器3,其中高阶波前校正器3位于望远镜入瞳的共轭位置。第一分光镜4将光分为两束,一束用于精跟踪波前传感器5探测低阶倾斜像差;另一束经第二分光镜7分别进入成像子系统8和相关夏克-哈特曼波前传感器9。
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