[发明专利]测距装置、测距方法及电子设备有效

专利信息
申请号: 202010490963.X 申请日: 2020-06-02
公开(公告)号: CN111708040B 公开(公告)日: 2023-08-11
发明(设计)人: 吕向楠 申请(专利权)人: OPPO广东移动通信有限公司
主分类号: G01S17/48 分类号: G01S17/48
代理公司: 北京知帆远景知识产权代理有限公司 11890 代理人: 徐静
地址: 523860 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 测距 装置 方法 电子设备
【说明书】:

本申请公开一种测距装置、电子设备及测距方法。测距装置包括至少两个激光发射单元、检测器阵列及处理器。至少两个激光发射单元用于朝向场景发射光学脉冲,每个激光发射单元具有不同的功率。检测器阵列用于接收从场景中的点反射的光学脉冲并输出指示所接收的光学脉冲的相应到达时间的信号。处理器用于根据信号控制至少两个激光发射单元的开启。本申请的测距装置、测距方法及电子设备中,每个激光发射单元具有不同的功率,且处理器能够根据检测器阵列输出的信号控制相应的激光发射单元的开启,以使得被物体反射回来的光脉冲适度,不会过强或过弱,保证测距结果准确。

技术领域

本申请涉及测距领域,尤其是涉及一种测距装置、具有该测距装置电子设备及一种测距装置的测距方法。

背景技术

随着技术的发展,手机、平板电脑等电子设备具备了越来越多的功能,例如人脸解锁、移动支付等等。为了实现这些功能,电子设备上都会配置测距装置,该测距装置可以用来测量设备与场景(包括人脸)之间的距离。目前,测距装置包括光发射器与光接收器,光发射器用于向场景中发射光脉冲,光接收器接收经场景反射回的由光发射器发出的光脉冲来进行测距,然而,在测量距离时,光发射器发出的光脉冲的能量是固定不变的,可能会导致被物体反射回来的光脉冲过强或过弱,导致测距结果存在误差。

发明内容

本申请的实施方式提供一种测距装置、电子设备及测距装置的测距方法。

本申请实施方式的测距装置包括至少两个激光发射单元、检测器阵列及处理器。至少两个所述激光发射单元用于朝向场景发射光学脉冲,每个所述激光发射单元具有不同的功率。所述检测器阵列用于接收从所述场景中的点反射的所述光学脉冲并输出指示所接收的光学脉冲的相应到达时间的信号。所述处理器用于根据所述信号控制相应的所述激光发射单元的开启。

本申请实施方式的测距装置包括激光发射单元、检测器阵列及处理器。所述激光发射单元用于朝向场景发射光学脉冲。所述检测器阵列用于接收从所述场景中的点反射的所述光学脉冲并输出指示所接收的光学脉冲的相应到达时间的信号。所述处理器用于处理所述信号以获取所述检测器阵列接收的光学脉冲的强度,并根据所述强度控制所述检测器阵列的信号输出。

本申请实施方式的电子设备包括机壳和上述任一实施方式测距装置。所述测距装置安装在所述机壳上。

本申请实施方式提供一种测距装置的测距方法,所述测距装置包括至少两个激光发射单元、检测器阵列及处理器。所述测距方法包括:通过至少两个所述激光发射单元朝向场景发射光学脉冲,每个所述激光发射单元具有不同的功率;通过所述检测器阵列接收从所述场景中的点反射的光学脉冲并输出指示所接收的光学脉冲的相应到达时间的信号;及根据所述信号控制相应的所述激光发射单元的开启。

本申请实施方式提供一种测距装置的测距方法,所述测距装置包括激光发射单元、检测器阵列及处理器。所述测距方法包括:通过所述激光发射单元朝向场景发射光学脉冲;通过所述检测器阵列接收从所述场景中的点反射的所述光学脉冲并输出指示所接收的光学脉冲的相应到达时间的信号;及处理所述信号以获取所述检测器阵列接收的光学脉冲的强度,并根据所述强度控制所述检测器阵列的信号输出。

本申请实施方式的测距装置、测距方法及电子设备中,每个激光发射单元具有不同的功率,且处理器能够根据检测器阵列输出的信号控制相应的激光发射单元的开启,以使得被物体反射回来的光脉冲适度,不会过强或过弱,保证测距结果准确。

本申请实施方式的测距装置、测距方法及电子设备中,可以实现自动调节至少两个所述激光发射单元发射的脉冲的强度,使所述检测器阵列工作在合适的光强范围内。

本申请实施方式的测距装置、测距方法及电子设备中,还可以实现自动调节所述检测器阵列的灵敏度,使所述检测器阵列可以适应更大范围内的光强下的工作。

本申请实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。

附图说明

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