[发明专利]一种光载无线电控制模块和光载无线电互相关检测系统在审

专利信息
申请号: 202010493212.3 申请日: 2020-06-03
公开(公告)号: CN111913052A 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 沈婷梅;毛新凯;曾亮 申请(专利权)人: 北京无线电计量测试研究所
主分类号: G01R29/26 分类号: G01R29/26;H04B10/25
代理公司: 中国航天科工集团公司专利中心 11024 代理人: 张国虹
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 无线电 控制 模块 互相 检测 系统
【说明书】:

发明公开一种光载无线电控制模块和光载无线电互相关检测系统,该系统包括包括光载无线电控制模块、功率分配模块、正交检相模块A、正交检相模块B以及系统测量软件模块,光载无线电控制模块包括光源、至少两个调制模块、至少两个光环形器、偏振光耦合延时模块、法拉第旋光反射模块以及光电探测器。本发明融合了互相关降噪技术、光纤宽频带特性及长时延低损耗传输特性,一方面提高了光载无线电相位噪声检测系统的频率覆盖范围,另一方面改善了光载无线电互相关相位噪声检测装置的一致性,降低系统本底噪声,可应用于光载无线电相位噪声检测装置中的光调制链路控制,尤其在各种超低噪声高频振荡源相位噪声检测系统中优势凸显。

技术领域

本发明涉及光载无线电传输技术领域,尤其涉及一种光载无线电控制模块和光载无线电互相关检测系统。

背景技术

高频振荡源相位噪声检测技术主要包括锁相环法和基于光载波技术的鉴频法,锁相环法也称双源法,利用双平衡混频技术及锁相环技术,使参考振荡源和待测源的输出信号相位正交锁定,利用相位正交时的电压起伏实现相位噪声检测;鉴频法也称单源法,利用信号延时及混频技术将振荡源频率起伏转换为相位起伏,实现相位噪声测量。

锁相环法相位噪声测量系统的局限性主要体现在以下两个方面:第一,测量高频率振荡源时,若待测源与参考振荡源混频后的频差为几十兆赫兹,环路增益范围较宽,设计难度大;第二,需要同频率参考振荡源。

目前,国际上最先进的商用相位噪声测试仪为安捷伦E5052A,它基于锁相环技术,10GHz输入频率时,系统的近载频测试灵敏度为-72dBc/Hz@10Hz,远载频灵敏度为-125dBc/Hz@10kHz;而各种新型振荡源的相位噪声指标远远好于其测试灵敏度;10GHz光电振荡源的远载频相位噪声指标已达到-156dBc/Hz@10kHz,8.6GHz的超导振荡源的近载频相位噪声指标达到-105dBc/Hz@10Hz;锁相环法实现的测试仪已不能满足各类新型振荡源相位噪声测试要求。

发明内容

本发明的目的在于提供一种设计合理,提高光载无线电相位噪声检测系统的频率覆盖范围和一致性的光载无线电控制模块。

本发明的另一目的在于提供一种设计合理,采用上述光载无线电控制模块的光载无线电互相关检测系统。

为了实现上述目的,本发明提供如下技术方案:

本发明是一种光载无线电控制模块,其特点是,包括光源、至少两个调制模块、至少两个光环形器、偏振光耦合延时模块、法拉第旋光反射模块以及光电探测器;

光源向调制模块输出光载波信号,调制模块对输入的光载波信号进行偏振、隔离及微波调制后,输出已调制的光载波信号,已调制的光载波信号经光环形器正向传输至偏振光耦合延时模块进行延时控制,偏振光耦合延时模块输出两路偏振面相正交的偏振光到法拉第旋光反射模块,在法拉第旋光反射模块的作用下,两路相互正交的入射光从法拉第旋光反射模块反射回偏振光耦合延时模块,经过偏振光耦合延时模块进行延时和分波控制后,再次入射到光环形器,由光环形器入射到光电探测器,光电探测器将反射波进行光电转换和放大后输出延时微波信号,完成光载无线电的调制。

与现有技术相比,本发明利用偏振正交性,在同一光纤延时阵列中传输双通道互相关光载波链路,减小了光纤传输损耗减小,另外,系统对称性设计,可保证光载无线电相位噪声检测系统中互相关链路的一致性。

优选地,所述法拉第旋光反射模块的反射波偏振面与入射到法拉第旋光反射模块的偏振光偏振面旋转90°,两路反射波的偏振面仍保持相互正交,且分别与各自的入射波偏振面正交。

优选地,所述的调制模块和光环形器设有偶数个。

优选地,所述调制模块由偏振控制器、反向隔离器及调制器串联而成。

优选地,所述光源通过保偏光纤与调制模块相连。

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