[发明专利]一种用于面板检测的仿真系统及方法在审
申请号: | 202010493850.5 | 申请日: | 2020-06-03 |
公开(公告)号: | CN111735826A | 公开(公告)日: | 2020-10-02 |
发明(设计)人: | 丁敬 | 申请(专利权)人: | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/956 | 分类号: | G01N21/956;G05B19/05 |
代理公司: | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人: | 张英 |
地址: | 430205 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 面板 检测 仿真 系统 方法 | ||
1.一种用于面板检测的仿真系统,该系统与AOI自动光学检测系统连接,其特征在于,所述仿真系统包括设备仿真模块和PLC指令仿真模块;其中,
所述设备仿真模块用于创建有面板检测设备的仿真运行场景,用于执行面板检测设备的仿真运行操作;
所述PLC指令仿真模块用于根据接收所述设备仿真状态触发AOI自动光学检测系统运行,并接收将AOI自动光学检测系统的运行结果反馈至所述设备仿真模块。
2.根据权利要求1所述的用于面板检测的仿真系统,其特征在于,所述设备仿真模块包括第一配置模块、功能控制模块和第一界面显示模块;其中,
所述第一配置模块用于对所述面板检测设备的设备信息进行配置;
所述第一界面显示模块用于显示所述面板检测设备的仿真运行场景;
所述功能控制模块用于根据接收到的指令对所述面板检测设备执行仿真运行操作。
3.根据权利要求2所述的用于面板检测的仿真系统,其特征在于,所述第一界面显示模块还包括人机交互界面,所述第一界面显示模块接收用户通过界面操作输入的执行控制信息,并发送至功能控制模块;
所述功能控制模块还用于生成设备状态信息发送至PLC指令仿真模块;同时接收PLC指令仿真模块发送的检测结果信息。
4.根据权利要求1所述的用于面板检测的仿真系统,其特征在于,所述PLC指令仿真模块包括第二配置模块、扫描模块、发送接收模块和第二界面显示模块;
所述第二配置模块用于对PLC指令参数进行配置;
所述发送接收模块用于设备仿真模块与AOI自动光学检测系统之间的信息交互接收;
所述扫描模块用于监控PLC输入/输出点位的变化以通过所述发送接收模块触发设备仿真模块或AOI自动光学检测系统进行相应的动作;
所述第二界面显示模块用于显示PLC输入/输出点位状态。
5.根据权利要求1所述的用于面板检测的仿真系统,其特征在于,
所述PLC指令参数包括心跳时间、扫描时间、PLC输入/输出点位;
设备仿真模块与AOI自动光学检测系统之间的交互信息包括设备状态、变化点位、从AOI发送的功能控制、检测结果。
6.根据权利要求4所述的用于面板检测设备仿真系统,其特征在于,所述第二配置模块中PLC输入/输出点位包括Bit点位、Short点位、String点位、Float点位、Int32点位和数据块点位。
7.根据权利要求6所述的用于面板检测设备仿真系统,其特征在于,所述Bit点位状态包括0和1;其中,
当所述点位状态为0时,界面显示成灰色的提示灯,表示暂无检测任务;
当所述点位状态为1时,界面显示成绿色的提示灯,表示正在执行检测任务。
8.一种用于面板检测的仿真方法,应用如权利要求1-7任一项所述的面板检测设备仿真系统进行面板检测,其特征在于,包括:
S1:设备仿真模块根据接收到的指令执行面板检测设备的仿真运行操作;
S2:PLC指令仿真模块根据面板检测设备的仿真运行的状态触发AOI自动光学检测系统运行;
S3:AOI自动光学检测系统将控制指令或检测结果通过PLC指令仿真模块反馈给设备仿真模块;
S4:设备仿真模块根据接收到的指示重复步骤S1或者准备进入下一个流片检测程序。
9.一种面板检测装置,其特征在于,包含AOI自动光学检测系统以及如权利要求1-7任一项所述的用于面板检测的仿真系统。
10.一种计算机设备,包括存储器、处理器,其特征在于,所述存储器上存储有可在处理器上运行的如权利要求1至7中任一项权利要求所述的用于面板检测的仿真系统。
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