[发明专利]一种显示面板及其裂纹检测方法、显示装置有效
申请号: | 202010498674.4 | 申请日: | 2020-06-04 |
公开(公告)号: | CN111540294B | 公开(公告)日: | 2023-09-12 |
发明(设计)人: | 龙跃;吴超;蔡建畅;孙开鹏 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 解婷婷;曲鹏 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 显示 面板 及其 裂纹 检测 方法 显示装置 | ||
1.一种显示面板,包括:显示区和围绕所述显示区的外围区,所述显示区包括多条数据线,所述外围区设置有裂纹检测电路结构,其中,所述裂纹检测电路结构包括第一检测走线、第二检测走线和第三检测走线,以及,与所述数据线一一对应的多个检测开关电路,所述检测开关电路的控制端电连接到所述第三检测走线,所述检测开关电路的输出端电连接到对应的数据线,一部分所述检测开关电路的输入端电连接到所述第一检测走线,其余所述检测开关电路的输入端电连接到所述第二检测走线,所述第一检测走线和所述第二检测走线电连接到位于所述外围区的第一测试端,所述第三检测走线电连接到位于所述外围区的第二测试端;
所述第一检测走线围绕所述显示区设置,所述第二检测走线包括围绕所述显示区的封闭走线;所述第二检测走线位于所述第一检测走线靠近所述显示区一侧。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述第三检测走线包括围绕所述显示区的封闭走线。
3.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述第三检测走线位于所述第二检测走线靠近所述显示区一侧。
4.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述第一测试端和所述第二测试端为电性测试焊盘,所述第一测试端被配置为与检测探针接触,为所述第一检测走线和所述第二检测走线提供测试电压,所述第二测试端被配置为与检测探针接触,为所述第三检测走线提供开关信号以控制所述检测开关电路的导通或截止。
5.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述第一检测走线包括第一端和第二端,所述第一端电连接到位于所述外围区的第一模组测试焊盘,所述第二端电连接到位于所述外围区的第二模组测试焊盘,所述第三检测走线电连接位于所述外围区的第三模组测试焊盘,所述第一模组测试焊盘、所述第二模组测试焊盘和所述第三模组测试焊盘被配置为与驱动电路板电连接。
6.根据权利要求1至5任一所述的显示面板,其特征在于,所述述检测开关电路包括至少一个薄膜晶体管,所述薄膜晶体管的控制极为所述检测开关电路的控制端,所述薄膜晶体管的第一极为所述检测开关电路的输入端,所述薄膜晶体管的第二极为所述检测开关电路的输出端。
7.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求1至6任一所述的显示面板。
8.一种显示面板的裂纹检测方法,所述显示面板为权利要求1至6任一所述的显示面板,所述裂纹检测方法包括:
接收从所述第二测试端输入的导通信号并导通所述检测开关电路,接收从所述第一测试端输入的测试电压,所述测试电压满足:当所述测试电压加载到所述数据线时,所述数据线所连接的子像素呈现第一发光状态;
根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板是否存在裂纹。
9.根据权利要求8所述的显示面板的裂纹检测方法,其特征在于,所述根据所述显示面板的子像素的发光状态确定所述显示面板是否存在裂纹包括:
当所述显示面板上存在至少一条数据线所连接的子像素呈现第二发光状态时,判断所述显示面板存在裂纹,所述第一发光状态和所述第二发光状态其中之一为亮态,另一为暗态。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010498674.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。