[发明专利]一种磁铁旋测线圈检测方法

权利要求书

1.一种磁铁旋测线圈检测方法，其具体实现步骤如下：

步骤1：图像扫描

步骤1.1：根据待测旋测线圈长度，将待测旋测线圈分为N段扫描区，N≥2；

步骤1.2：将待测旋测线圈通过三爪卡盘竖直固定于旋转平台上，待测旋测线圈一侧放置X射线源，相应的另一侧放置探测器；

步骤1.3：开启X射线源，设定X射线源的管电压和管电流，以及物距和焦距，自动校正平板探测器，自动校正包括偏置校正和增益校正；

步骤1.4：开启旋转平台，使待测旋测线圈旋转一周，完成待测旋测线圈的第一段扫描区投影数据采集；

步骤1.5：同步调节射线源和探测器自上而下移动到下一段扫描区，使待测旋测线圈一周，完成待测旋测线圈的第二段扫描区投影数据采集；

步骤1.6：重复执行步骤1.5，直至完成待测旋测线圈的第N-1段扫描区投影数据采集；

步骤1.7：将步骤1.6采集到的投影数据进行滤波反投影重建，获得待测旋测线圈的前N-1段三维CT体数据；

步骤1.8：将待测旋测线圈上下颠倒装卡，对被三爪卡盘遮挡的待测旋测线圈第N段进行扫描，完成待测旋测线圈第N段扫描区投影数据采集；

步骤1.9：通过对步骤1.7和步骤1.8的数据进行拟合、对齐和融，生成扫描总图像；所述扫描总图像中包括背景图像、待测旋测线圈图像以及比例尺图像，且扫描总图像中待测旋测线圈为水平方向放置；

步骤2：数据处理

步骤2.1：利用Matlab中double函数获取总图像强度信息I1，利用size函数获取总图像的宽w和高h；

步骤2.2：提取比例尺图像，计算得到每像素之间间隔与实际距离之间的比例系数r；

步骤2.3：提取待测旋测线圈图像；

在位于总图像中心线上下对称的h/2±R位置范围内，提取出待测旋测线圈图像，其中，R代表旋转线圈在待测旋测线圈图像中的半径；

步骤2.4：利用size函数计算得到待测旋测线圈图像的宽w1和高h1，利用函数linspace和比例系数r，计算得到该图像的实际长x和宽y，并利用x和y将待测旋测线圈图像的像素坐标二维化,得到待测旋测线圈图像像素位置矩阵[xx,yy]；

步骤2.5：在待测旋测线圈的图像内绘制待测旋测线圈两端轴承的中心连线：

步骤2.5.1：计算待测旋测线圈的两端轴承坐标均值：

在位于待测旋测线圈图像的水平方向两侧，且亮度高于设定值Lum01的两个区域内，筛选得到两个二值图像，分别记为Ileft和Iright，利用find函数筛选得到两端轴承像素区所在位置，代入像素位置矩阵[xx,yy]，并利用均值函数得到两端轴承区坐标均值，分别记为[xleft,yleft]以及[xright,yright]；其中，55Lum0165；

步骤2.5.2：根据两端轴承区坐标均值[xleft,yleft]以及[xright,yright]，绘图得到两端轴承的中心连线[x,y]，利用polyfit函数得到最小二乘拟合系数为p0；

步骤2.6：在待测旋测线圈图像内确定待测旋测线圈中平面直线：在位于待测旋测线圈图像的水平方向的中间位置，且亮度高于设定值Lum02的区域内，筛选得到一个二值图像，记为Iline，利用find函数筛选得到中平面线圈像素区所在位置，代入像素位置矩阵[xx,yy]，并利用均值函数得到线圈区坐标矩阵[xline,yline]；其中，75Lum0185；

利用polyfit函数得到最小二乘拟合系数为p1，利用polyval函数得到中平面直线[x1,y1]；

步骤2.7：计算待测旋测线圈两端轴承的中心连线和中平面直线之间的偏差。