[发明专利]一种嵌入式设备NandFlash I/O数据监测系统及方法

说明书

本发明公开了一种嵌入式设备NandFlash I/O数据监测系统，包括通过串口通讯的嵌入式设备和PC，还包括植入嵌入式设备中的监控模块和安装在PC中的智能监测系统，智能监测系统包括智能数据分析模块以及与所述智能数据分析模块连接的界面显示模块、测试用例输入模块、定时模块和测试报告自动生成模块，监控模块与所述智能数据分析模块进行数据交互。还公开了一种嵌入式设备Flash I/O数据监测方法。本发明通过监测Flash擦写异常实现对电子产品的监控告警功能，可以提前发现电子产品由于产品软件设计、使用第三方软件等造成Flash擦写异常的情况，发出警示，终止相关应用的使用，提高电子产品的使用寿命。

技术领域

本发明涉及NandFlash技术领域，具体的说，是一种嵌入式设备NandFlash I/O数据监测系统及方法。

背景技术

目前，NandFlash已经广泛应用于手机、机顶盒、电视机、固态硬盘、U盘等电子产品中，用于存储电子产品的各类参数数据。NandFlash的主要种类包括SLC、MLC、TLC、QLC。根据这种NandFlash的特点，在产品使用过程中，对NandFlash不断擦写，擦写数据的次数或数据总量达到NandFlash芯片厂商规定的限值时，NandFlash的使用寿命即到期。为了用户的数据安全，芯片厂商不建议用户再继续使用。

关于NandFlash使用寿命的计算，还存在其它一些因素，如目前各类嵌入式设备的功能越来越齐全，尤其如AI智能类嵌入式设备担负起越来越多的创新业务，这些产品在用户实际环境工作中除系统运行自带进程外，还会运行其它第三方应用进程。如果嵌入式设备自身的系统软件存在设计缺陷，或在用户实际环境中运行的第三方的应用软件未经过严格测试，导致对嵌入式设备的NandFlash读写次数或擦写数据量远远大于正常理论值时，就会影响到嵌入式设备NandFlash正常使用寿命(如正常工作寿命5年的嵌入式设备，实际工作寿命缩短到1年)。对NandFlash监测的现有技术众多，但大部分为对NandFlash坏块进行管理、使用寿命进行检测，判断NandFlash品质是否合格。本发明通过对嵌入式产品NandFlash的I/O进行数据擦写实时监控保存并实时分析，达到拦截影响嵌入式设备NandFlash正常使用寿命的嵌入式设备系统软件、第三方应用软件缺陷目的，确保嵌入式设备正常使用寿命。

发明内容

本发明的目的在于提供一种嵌入式设备NandFlash I/O数据监测系统及方法，用于解决现有技术中无法监测因系统软件或第三方应用软件问题引起NandFlash擦写异常的问题。

本发明通过下述技术方案解决上述问题：

一种嵌入式设备NandFlash I/O数据监测系统，包括通过串口通讯的嵌入式设备和PC，还包括植入嵌入式设备中的监控模块和安装在PC中的智能监测系统，所述智能监测系统包括智能数据分析模块以及与所述智能数据分析模块连接的界面显示模块、测试用例输入模块、定时模块和测试报告自动生成模块，所述监控模块与所述智能数据分析模块进行数据交互。

模拟系统正常使用场景，待测嵌入式设备在取得用户许可的情况下在线或者离线执行测试用例输入模块中输入的测试用例，测试用例将监测参数传递至智能数据分析模块，定时模块开始计时，在设定的监测时间段内，植入嵌入式设备的监控模块监控设备各应用进程，间接得知NandFlash I/O擦写数据情况，并传递至智能数据分析模块，由智能数据分析模块评估分析NandFlash及产品使用寿命，并判断嵌入式设备系统软件或第三方应用软件是否存在异常擦写NandFlash I/O情况，若有，则由界面显示模块进行界面显示预警及输出详细风险评估报告；若无，则继续测试，直至测试结束，由测试报告自动生成模块输出测试报告。