[发明专利]一种基板多点温度监测及变形测量系统及工作方法在审

专利信息
申请号: 202010501994.0 申请日: 2020-06-04
公开(公告)号: CN111693168A 公开(公告)日: 2020-09-22
发明(设计)人: 方学伟;任传奇;杨金波;王帅鹏;白浩;杨健楠;黄科;卢秉恒 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01K7/02 分类号: G01K7/02;G01K1/14;G01B11/16
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司 61200 代理人: 房鑫
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 多点 温度 监测 变形 测量 系统 工作 方法
【权利要求书】:

1.一种基板多点温度监测及变形测量系统,其特征在于,包括基板(5),基板(5)上布设有若干温度传感器(4),基板(5)侧面设置有若干激光测距传感器(6),温度传感器(4)用于采集基板上的特征点温度,激光测距传感器(6)用于采集基板(5)特征点表面的形变量,所有温度传感器(4)均连接控制器PLC(8)的温度采集模块(9),所有激光测距传感器(6)均连接在控制器PLC(8)的模拟量采集模块(7),控制器PLC(8)连接计算机(10),计算机(10)用于实时采集温度传感器(4)和激光测距传感器(6)的数据,并进行显示和储存。

2.根据权利要求1所述的一种基板多点温度监测及变形测量系统,其特征在于,温度传感器(4)采用垫片式热电偶温度传感器。

3.根据权利要求1所述的一种基板多点温度监测及变形测量系统,其特征在于,温度传感器(4)通过螺钉固定在基板(5)上。

4.根据权利要求1所述的一种基板多点温度监测及变形测量系统,其特征在于,控制器PLC(8)通过网络连接计算机(10)。

5.权利要求1所述的一种基板多点温度监测及变形测量系统的工作方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤一,根据激光/电弧增材制造的需求,在基板(5)上对应位置布设若干温度传感器(4);

步骤二,在基板(5)侧面布设若干激光测距传感器(6),按照所需工况使激光测距传感器(6)能够覆盖整个基板(5)特征点;

步骤三,在激光/电弧增材制造时,所有温度传感器(4)持续采集基板(5)上的点温度,激光测距传感器(6)持续采集基板(5)表面的形变量;

步骤四,温度传感器(4)将基板(5)上的点温度发送至计算机(10),激光测距传感器(6)将基板(5)表面的形变量发送至计算机(10);

步骤五,计算机(10)对温度传感器(4)和激光测距传感器(6)发送的数据进行实时显示和储存。

6.根据权利要求5所述的一种基板多点温度监测及变形测量系统的工作方法,其特征在于,步骤一中,首先根据实际工况,在基板(5)上确定温度传感器(4)的布设位置,在布设位置上打孔攻丝,将温度传感器(4)通过螺钉固定在孔中。

7.根据权利要求5所述的一种基板多点温度监测及变形测量系统的工作方法,其特征在于,步骤四中,温度传感器(4)和激光测距传感器(6)的数据均以OPC的形式传输给PC机。

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