[发明专利]超声检测声束特性校核试块

说明书

本发明涉及一种超声检测声束特性校核试块。该试块的第一检测体包括多个第一单体，每个第一单体均包括第一方形体以及第一扇形体，各个第一扇形体的第一直面和对应的第一方形体的第三直面共面，各个第一扇形体的第二直面和对应的第一方形体的第四直面位于第一平面上，第二检测体包括多个第二单体，每个第二单体均包括第二方形体以及第二扇形体，各个第二扇形体的第七直面和对应的第二方形体的第九直面共面，第二扇形体的第八直面和对应的第二方形体的第十直面位于第二平面上，第一检测体两端和第二检测体的两端位于同一平面上，第一平面和第二平面位于同一平面上。本发明能进行横波斜探头、纵波直探头和纵波斜探头近距离和远距离声束特性的测定。

技术领域

本发明属于无损检测技术领域，尤其涉及一种超声检测声束特性校核试块。

背景技术

无损检测就是在不损害或不影响被检测对象使用性能的前提下，采用射线、超声、红外、电磁等原理技术并结合仪器对材料、零件、设备进行缺陷、化学、物理参数检测的技术。超声波检测即是目前应用最广泛、使用频率最高且发展较快的无损检测方法之一，是产品制造中实现质量控制、节约原材料、改进工艺、提高劳动生产力的重要手段，也是设备维护中不可或缺的手段之一。

试块是超声检测检测中最重要的设备之一，对于保证检测结果的准确性、可重复性和可比性具有重要意义。

国内外通常采用IIW1、IIW2、CSK-Ⅰ第一扇形体等标准试块对横波探头及纵波探头进行性能检测。然而，这些试块往往只能检测探头声束的远距离特性，对于声束的近距离特性没有合适的检测试块和检测方式，这是由于超声声场近距离特性极大地制约靠近声场的缺陷的检出效果和评定准确性。

因此，设计一种既能检测探头声束近距离和远距离特性的试块就显得极为重要。

发明内容

针对上述现有技术存在的问题，本发明提供一种超声检测声束特性校核试块，以解决现有技术中的校核试块不能同时对声束近距离和远距离特性进行检测的技术问题。

本发明通过以下技术方案来实现上述目的：

一种超声检测声束特性校核试块，所述检测试块包括连成一体的第一检测体以及第二检测体，其中：

所述第一检测体包括多个第一单体，每个所述第一单体均包括一一对应设置的第一方形体以及圆心角为90°的第一扇形体，每个所述第一单体中，所述第一扇形体具有夹角为90°的第一直面和第二直面，所述第一方形体具有按顺时针依次连接形成方形的第三直面、第四直面、第五直面以及第六直面，所述第一扇形体的第一直面和对应的所述第一方形体的第三直面共面，所述第一扇形体的第二直面和对应的所述第一方形体的第四直面位于第一平面上，各个所述第一单体的所述第一扇形体同轴依次连接，各个所述第一单体的所述第一方形体沿平行于所述第一扇形体的中心轴的方向依次连接；

所述第二检测体包括多个第二单体，每个所述第二单体均包括一一对应的第二方形体以及圆心角为90°的第二扇形体，每个所述第二单体中，所述第二扇形体具有夹角为90°的第七直面和第八直面，所述第二方形体具有按逆时针依次连接形成方形的的第九直面、第十直面、第十一直面以及第十二直面，所述第二扇形体的第七直面和对应的所述第二方形体的第九直面共面，所述第二扇形体的第八直面和对应的所述第二方形体的第十直面位于第二平面上，各个所述第二单体的所述第二扇形体同轴依次连接，各个所述第二单体的所述第二方形体沿平行于所述第二扇形体的中心轴的方向依次连接；

所述第一检测体沿所述第一扇形体的轴向的两端分别和所述第二检测体沿所述第二扇形体的轴向的两端位于同一平面上，所述第一检测体的第一方形体的第五直面连接在所述第二检测体的第二方形体的第十一直面上，所述第一平面和所述第二平面位于同一平面上。

进一步地，所述第一检测体中，各个所述第一单体的第一方形体的第四直面的尺寸相同；

所述第二检测体中，各个所述第二单体的第二方形体的第十直面的尺寸相同。