[发明专利]AWCC的参数数值确定方法、装置、设备及计算机存储介质

说明书

本发明实施例提供了一种AWCC的参数数值确定方法、装置、设备及计算机存储介质。该AWCC的参数数值确定方法，包括：获取AWCC的目标参数的β个参数数值和参数数值对应的中子探测效率；基于每个参数数值对应的中子探测效率，确定各个参数数值对应的选择概率；生成随机数，并选择与随机数对应的选择概率所对应的参数数值，得到第一目标参数数值；利用遗传算法对每个第一目标参数数值进行交叉操作和/或变异操作，得到δ个第二目标参数数值；确定每个第二目标参数数值的中子探测效率；将最大中子探测效率对应的第二目标参数数值确定为AWCC的目标参数的最终数值。该发明实施例，能够确定出AWCC的全局最优参数数值，提高其中子探测效率。

技术领域

本发明属于参数数值确定技术领域，尤其涉及一种有源阱型中子符合计数器(active well coincidence counter，AWCC)的参数数值确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质。

背景技术

AWCC是一种用于探测中子的探测器。为了提高AWCC的中子探测效率，相关技术中对AWCC的结构(例如，AWCC的环状分布半径、环状分布层数、AWCC中He-3管探测器的数目等结构)进行了设计。在设计这些结构的过程中，通常将这些结构的参数依据个人经验设置3～5个值，生成的方案仅有几十个。由于样本空间小，故从中难以确定出AWCC的全局最优参数数值。

因此，如何确定出AWCC的全局最优参数数值，以提高其中子探测效率，是本领域技术人员亟需解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例提供一种AWCC的参数数值确定方法、装置、电子设备及计算机存储介质，能够确定出AWCC的全局最优参数数值，以提高其中子探测效率。

第一方面，本发明实施例提供一种AWCC的参数数值确定方法，包括：

获取AWCC的目标参数的β个参数数值和每个参数数值对应的中子探测效率；其中，β为正整数；

基于每个参数数值对应的中子探测效率，确定各个参数数值对应的选择概率；其中，选择概率正比于中子探测效率；

生成随机数，并选择与随机数对应的选择概率所对应的参数数值，得到至少一个第一目标参数数值；

利用遗传算法对每个第一目标参数数值进行交叉操作和/或变异操作，得到δ个第二目标参数数值；其中，δ为大于β的正整数；

确定每个第二目标参数数值的中子探测效率；

比较各个第二目标参数数值的中子探测效率的大小，将最大中子探测效率对应的第二目标参数数值确定为AWCC的目标参数的最终数值。

可选的，当β为大于1的正整数时，则获取AWCC的目标参数的β个参数数值和每个参数数值对应的中子探测效率，包括：

获取AWCC的目标参数的γ个参数数值；其中，γ为小于β的正整数；

依据预设的参数数值生成策略，基于γ个参数数值，生成β个参数数值；

确定每个参数数值对应的中子探测效率。

可选的，依据预设的参数数值生成策略，基于γ个参数数值，生成β个参数数值，包括：

依据预设的均匀抽样算法，基于γ个参数数值，生成β个参数数值。

可选的，确定每个参数数值对应的中子探测效率，包括：

利用蒙特卡罗算法，确定每个参数数值对应的中子探测效率。

可选的，确定每个参数数值对应的中子探测效率，包括：