[发明专利]一种辐射测试获取准峰值的方法和设备

说明书

本发明提供了一种辐射测试获取准峰值的方法和设备，该方法包括以下步骤：每经过阈值时间获取天线在不同高度处以及转桌在不同角度下辐射的峰值；将峰值发送到比较器中，并将峰值与上个阈值时间记录的峰值进行比较；响应于峰值大于上个阈值时间记录的峰值，将上个阈值时间记录的峰值在比较器中删除，并将峰值记录在比较器中；响应于辐射测试完成，对上述比较器中记录的峰值进行整理以得到辐射测试的准峰值。通过使用本发明的方案，能够在低硬件配置的情况下，降低辐射测试时的抓点耗费时间，提升测试效率，节省测试费用。

技术领域

本领域涉及计算机领域，并且更具体地涉及一种辐射测试获取准峰值的方法和设备。

背景技术

随着公司国际化的日渐加深，其产品规范化也要求越来越高，伴随这走向欧美等国家，产品所需满足的法规要求也日益规范，目前仅EMC(电磁兼容性)方面的法规就包含CE/FCC/3C等多个国家的测试要求。其中：辐射测试作为EMC中的重要项目之一，其测试的广泛性可以说是EMC测试中必要的一个。辐射测试包含不同的频率测试，通常的频率是从30MHz开始，到1GHz为一个测试区间，高于1GHz的测试区间统称为高频辐射测试，其最高可能到达40GHz的频率。其在30MHz-1GHz区间内通过读取PK值(峰值)来进行第一步判断，若是不符合余量要求，会进行第二步QP值(准峰值)读取。若是满足余量要求，则判断通过，若是不满足余量要求，则判断不通过。

虽然时代一直在进步，但是辐射测试的技术由于其规范化和标准化，一直没有太大的变动。因此，其测试时间基本固定，都是天线扫描EUT(待测试设备)360度后，得到初步的PK检波波形，然后标识波形最高点，再进行QP值读取，其QP值读取过程则都是经过二次寻找PK最大值，然后再在PK最大值处读取QP值来进行，效率比较低。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的在于提出一种辐射测试获取准峰值的方法和设备，通过使用本发明的方法，能够在低硬件配置的情况下，降低辐射测试时的抓点耗费时间，提升测试效率，节省测试费用。

基于上述目的，本发明的实施例的一个方面提供了一种辐射测试获取准峰值的方法，包括以下步骤：

每经过阈值时间获取天线在不同高度处以及转桌在不同角度下辐射的峰值；

将峰值发送到比较器中，并将峰值与上个阈值时间记录的峰值进行比较；

响应于峰值大于上个阈值时间记录的峰值，将上个阈值时间记录的峰值在比较器中删除，并将峰值记录在比较器中；

响应于辐射测试完成，对上述比较器中记录的峰值进行整理以得到辐射测试的准峰值。

根据本发明的一个实施例，每经过阈值时间获取天线在不同高度处以及转桌在不同角度时辐射的峰值包括：

将天线分别设置在距转桌1米、2米、3米和4米的高度处进行测试；

天线在每个高度处时使转桌至少旋转360度。

根据本发明的一个实施例，响应于峰值大于上个阈值时间记录的峰值，将上个阈值时间记录的峰值在比较器中删除，并将峰值记录在比较器中包括：

记录峰值对应的天线的高度和转桌的角度。

根据本发明的一个实施例，响应于辐射测试完成，对上述比较器中记录的峰值进行整理以得到辐射测试的准峰值包括：

记录峰值形成的波形结果，然后依据阈值判断波形结果是否满足要求，并对波形结果进行标识；

对标识进一步确认，读取准峰值。

根据本发明的一个实施例，阈值时间为10毫秒。

本发明的实施例的另一个方面，还提供了一种辐射测试获取准峰值的设备，设备包括：