[发明专利]谐振腔的耦合波导环的调节方法、调节装置和谐振腔

说明书

本申请提供了一种谐振腔的耦合波导环的调节方法、调节装置和谐振腔。该调节方法包括：控制耦合波导环移动；实时获取移动过程中耦合波导环的散射参数；根据散射参数确定耦合波导环是否位于预定位置。上述方法通过在耦合波导环的移动过程中，检测耦合波导环的散射参数以确定耦合波导环是否位于预定位置，在耦合波导环位于预定位置的情况下，控制耦合波导环停止移动，即可完成调节，整个调节过程无需人工调控，实现了耦合波导环的自动调整。

技术领域

本申请涉及谐振腔技术领域，具体而言，涉及一种谐振腔的耦合波导环的调节方法、调节装置、计算机可读存储介质、处理器和谐振腔。

背景技术

介电材料性能的测试方法按照原理可以分为网络参数法以及谐振腔法两大类。相较而言网络参数法适用于较高介电损耗材料测试，而较低介电损耗材料通常采用谐振腔法进行测试。谐振腔法通常包括高Q腔法、谐振腔微扰法、带状线谐振器法、超导腔法、矩形介质材料表面金属化谐振法、以及介质谐振器法等。其中分离式介质谐振腔是介质谐振器的一种，可用于测量1-30GHz频率范围内的介质样品的介电常数和损耗角正切。

分离式介质谐振腔内的彼此分离的介质柱和固定支架都是由低损耗材料构成，所以，分离式介质谐振腔是一种具有高Q值的谐振器。其精度较高，适宜于介电薄板材料的测量；其适合对低损耗材料的测量，并且测量过程为无损测量。

由于谐振腔的几何形状、尺寸以及耦合位置决定了耦合状态，进而决定测试结果的准确度，测试系统每次测试前需要对谐振腔进行空腔校正，校正过程需要调节耦合环以确定耦合位置，校正过程繁琐。

在背景技术部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的背景技术的理解，因此，背景技术中可能包含某些信息，这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种谐振腔的耦合波导环的调节方法、调节装置、计算机可读存储介质、处理器和谐振腔，以解决现有技术中耦合波导环无法自动调整的问题。

根据本发明实施例的一个方面，提供了一种谐振腔的耦合波导环的调节方法，包括：控制耦合波导环移动；实时获取移动过程中所述耦合波导环的散射参数；根据所述散射参数确定所述耦合波导环是否位于预定位置。

可选地，实时获取移动过程中所述耦合波导环的散射参数，包括：获取输入反射系数和输出反射系数；获取反向转输系数和正向转输系数。

可选地，根据所述散射参数确定所述耦合波导环是否位于预定位置，包括：确定所述输入反射系数和所述输出反射系数是否相等；确定第一信号穿透值是否等于预定值，确定第二信号穿透值是否等于预定值，所述第一信号穿透值为所述反向转输系数的信号穿透值，第二信号穿透值为所述正向转输系数的信号穿透值；在所述输入反射系数与所述输出反射系数相等且所述第一信号穿透值和所述第二信号穿透值均等于预定值的情况下，确定所述耦合波导环位于预定位置。

可选地，所述预定值在-45dB～-40dB之间。

可选地，控制耦合波导环移动，包括：实时获取中心距离，所述中心距离为所述耦合波导环的中心与谐振腔的中心的距离；根据所述中心距离控制所述耦合波导环移动。

可选地，根据所述中心距离控制所述耦合波导环移动，包括：在所述中心距离在预定范围内的情况下，控制所述耦合波导环移动；在所述中心距离不在所述预定范围内的情况下，控制所述耦合波导环停止移动。

根据本发明实施例的另一方面，还提供了一种耦合波导环的调节装置，包括：控制单元，用于控制耦合波导环移动；获取单元，用于实时获取移动过程中所述耦合波导环的散射参数；确定单元，用于根据所述散射参数确定所述耦合波导环是否位于预定位置。

根据本发明实施例的再一方面，还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行任意一种所述的调节方法。