[发明专利]一种多要素逐级约束的单砂体剖面对比方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010521176.7 申请日: 2020-06-10
公开(公告)号: CN113775336B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 陈彬滔;潘树新;杨丽莎;王磊;白洁;赵伟 申请(专利权)人: 中国石油天然气股份有限公司
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;G01V1/50
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 闫加贺;姚亮
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 要素 逐级 约束 单砂体 剖面 对比 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种多要素逐级约束的单砂体剖面对比方法,其特征在于,所述方法包括:

S11,划分研究层段单井岩相,建立单井岩相柱状图和单砂体剖面对比格架;

S12,划分研究层段基准面旋回,并将基准面旋回划分结果标注于单井岩相柱状图;

S13,建立研究层段的单砂体宽厚比定量地质知识库;

S14,以岩相作为第一级约束要素进行单砂体剖面对比;

S15,在岩相作为第一级约束要素的单砂体剖面对比结果的基础上,以基准面旋回作为第二级约束要素进行单砂体剖面对比调整;

S16,在基准面旋回作为第二级约束要素的单砂体剖面对比结果的基础上,以单砂体宽厚比作为第三级约束要素进行单砂体剖面对比调整,完成最终的单砂体对比剖面。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,S12,划分研究层段基准面旋回,并将基准面旋回划分结果标注于单井岩相柱状图,包括:以粗粒岩相的底界作为基准面上升半旋回的底界,以厚层泥岩的中间点作为上升半旋回的顶界以及下一个下降半旋回的底界划分研究层段基准面旋回,并将基准面旋回划分结果标注于单井岩相柱状图。

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,S13,建立研究层段的单砂体宽厚比定量地质知识库,包括:

以研究层段的标准露头剖面为参考,统计单砂体的宽度、厚度参数,并根据单砂体的宽度、厚度参数计算研究层段的单砂体宽厚比,并建立研究层段的单砂体宽厚比定量地质知识库。

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,S14中,以岩相作为第一级约束要素进行单砂体剖面对比的约束原则为相同深度、相同岩相类型或相同岩相组合的单砂体横向连通。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,S15中,以基准面旋回作为第二级约束要素进行单砂体剖面对比调整的约束原则为基准面上升半旋回中-下部的砂体厚度大、横向延伸远、呈多边-多层式叠置;基准面上升半旋回上部与下降半旋回下部,单砂体呈孤立状分布;基准面下降半旋回中-上部,单砂体呈多边-多层式叠置。

6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,S16中,以单砂体宽厚比作为第三级约束要素进行单砂体剖面对比调整的约束原则为基于单井的单砂体厚度和研究层段的单砂体宽厚比,确定单井上各个单砂体的横向延伸宽度,根据所确定的横向延伸宽度对单砂体对比剖面进行调整。

7.一种多要素逐级约束的单砂体剖面对比装置,其特征在于,所述装置包括:

单井岩相柱状图和单砂体剖面对比格架建立单元,用于划分研究层段单井岩相,建立单井岩相柱状图和单砂体剖面对比格架;

基准面旋回划分及标注单元,用于划分研究层段基准面旋回,并将基准面旋回划分结果标注于单井岩相柱状图;

研究层段的单砂体宽厚比定量地质知识库建立单元,用于建立研究层段的单砂体宽厚比定量地质知识库;

第一级约束要素单砂体剖面对比单元,用于以岩相作为第一级约束要素进行单砂体剖面对比;

第二级约束要素单砂体剖面对比调整单元,用于在岩相作为第一级约束要素的单砂体剖面对比结果的基础上,以基准面旋回作为第二级约束要素进行单砂体剖面对比调整;

第三级约束要素单砂体剖面对比调整单元,用于在基准面旋回作为第二级约束要素的单砂体剖面对比结果的基础上,以单砂体宽厚比作为第三级约束要素进行单砂体剖面对比调整,完成最终的单砂体对比剖面。

8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述基准面旋回划分及标注单元具体用于以粗粒岩相的底界作为基准面上升半旋回的底界,以厚层泥岩的中间点作为上升半旋回的顶界以及下一个下降半旋回的底界划分研究层段基准面旋回,并将基准面旋回划分结果标注于单井岩相柱状图。

9.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述研究层段的单砂体宽厚比定量地质知识库建立单元具体用于以研究层段的标准露头剖面为参考,统计单砂体的宽度、厚度参数,并根据单砂体的宽度、厚度参数计算研究层段的单砂体宽厚比,并建立研究层段的单砂体宽厚比定量地质知识库。

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