[发明专利]一种具有多种测量模式为一体的高性能测试仪器

权利要求书

1.一种具有多种测量模式为一体的高性能测试仪器，包括设备箱(1)，其特征在于：所述设备箱(1)的前端设置有面板框(2)，所述面板框(2)设置为矩形框，所述面板框(2)与设备箱(1)设置为贴合，所述设备箱(1)与面板框(2)固定连接，所述面板框(2)上设置有防滑片(3)，所述防滑片(3)设置有两个，所述防滑片(3)设置为“凹”状，所述防滑片(3)与面板框(2)设置为贴合，所述面板框(2)与防滑片(3)固定连接，所述防滑片(3)上设置有第一防滑槽(4)，所述第一防滑槽(4)设置有多个，多个所述第一防滑槽(4)呈波浪状布置，所述第一防滑槽(4)的深度与防滑片(3)的厚度设置为一致，所述防滑片(3)的上端设置有第二防滑槽(5)，所述第二防滑槽(5)设置有两个，两个所述第二防滑槽(5)呈对称布置，所述第二防滑槽(5)与第一防滑槽(4)的形状大小设置为一致。

2.根据权利要求1所述的一种具有多种测量模式为一体的高性能测试仪器，其特征在于：所述第二防滑槽(5)的一侧设置有操作面板(6)，所述操作面板(6)与设备箱(1)固定连接，所述操作面板(6)的下端设置有电源开关(7)，所述操作面板(6)的一侧设置有复用按键(8)，所述复用按键(8)的一侧设置有信号源设置按键(9)，所述信号源设置按键(9)的一侧设置有测量功能按键(10)。

3.根据权利要求2所述的一种具有多种测量模式为一体的高性能测试仪器，其特征在于：所述测量功能按键(10)的一侧设置有系统设置按键(11)，所述系统设置按键(11)的下端设置有旋钮(12)，所述旋钮(12)的下端设置有光标按键(13)，所述光标按键(13)的一侧设置有数字输入按键(14)，所述数字输入按键(14)的下端设置有探头连接孔(15)。

4.根据权利要求1所述的一种具有多种测量模式为一体的高性能测试仪器，其特征在于：所述设备箱(1)后端的一侧设置有连接条(16)，所述连接条(16)设置为“L”状，所述连接条(16)设置有四个，四个所述连接条(16)设置在设备箱(1)后端的矩形四角处，所述连接条(16)与设备箱(1)固定连接，所述设备箱(1)下端的一侧设置有支撑腿(17)，所述支撑腿(17)设置有两个，所述支撑腿(17)设置为圆柱状，所述支撑腿(17)与设备箱(1)固定连接，两个所述支撑腿(17)呈轴向对称布置，所述设备箱(1)的后端设置有仪器背板(18)，所述仪器背板(18)设置为矩形板，所述仪器背板(18)与设备箱(1)设置为贴合，所述连接条(16)的后端设置有连接块(19)，所述连接块(19)设置有四个，所述连接块(19)设置为矩形板，四个所述连接块(19)设置在仪器背板(18)的矩形四角处，所述连接块(19)上设置有连接螺栓(20)，所述连接螺栓(20)设置有四个，所述连接螺栓(20)贯穿连接块(19)与仪器背板(18)，所述仪器背板(18)与设备箱(1)通过连接螺栓(20)与连接块(19)连接。

5.根据权利要求4所述的一种具有多种测量模式为一体的高性能测试仪器，其特征在于：所述仪器背板(18)上设置有USB插槽(21)，所述USB插槽(21)的下端设置有VGA插槽(22)，所述VGA插槽(22)的下端设置有RS232串行插槽(23)，所述RS232串行插槽(23)的下端设置有IEEE488插槽(24)，所述IEEE488插槽(24)的一侧设置有并行打印插槽(25)。

6.根据权利要求5所述的一种具有多种测量模式为一体的高性能测试仪器，其特征在于：所述并行打印插槽(25)的上端设置有散热槽(26)，所述散热槽(26)设置为圆环状，所述散热槽(26)的深度与设备箱(1)的厚度设置为一致，所述散热槽(26)的后端设置有挡灰条(27)，所述挡灰条(27)设置为“V”状，所述挡灰条(27)设置有两个，两个所述挡灰条(27)呈径向对称，所述挡灰条(27)上设置有固定块(28)，所述固定块(28)设置有四个，所述挡灰条(27)与设备箱(1)通过固定块(28)连接，所述并行打印插槽(25)的一侧设置有外触发输入插槽(29)，所述外触发输入插槽(29)的一侧设置有电源插槽(30)，所述电源插槽(30)的上端设置有铭牌槽(31)，所述铭牌槽(31)设置为矩形槽。