[发明专利]一种反射式样品形貌测量装置及方法在审
申请号: | 202010526234.5 | 申请日: | 2020-06-10 |
公开(公告)号: | CN111982020A | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | 杨光华;王丹;齐月静;宗明成;李璟;卢增雄;孟璐璐;折昌美 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周天宇 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 反射 式样 形貌 测量 装置 方法 | ||
1.一种反射式样品形貌测量装置,其特征在于,所述装置包括:
顺次设置的照明组件(101)、投影标记组件(102)、投影光学组件(103)、探测光学组件(104)、探测标记组件(105)、和数据采集组件(106);并在所述投影光学组件(103)和所述探测光学组件(104)之间的光路上设置待测样品(107);
其中,所述投影光学组件(103)和所述探测光学组件(104)中均包括凹球面反射镜、凸球面反射镜和平面反射镜;
所述照明组件(101)对投影标记组件(102)进行照射,投影光学组件(103)将投影标记组件(102)的像成像到待测样品(107)表面,探测光学组件(104)将携带待测样品形貌信息的投影标记组件(102)的像成像到探测标记组件(105)上,通过数据采集组件(106)得到待测样品的形貌信息。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述投影光学组件(103)包括:第一平面反射镜(103-3)、第一凹球面反射镜(103-1)、第一凸球面反射镜(103-2)和第二平面反射镜(103-4);
其中,第一凹球面反射镜(103-1)和第一凸球面反射镜(103-2)的球心重合,在第一凸球面反射镜(103-2)上,且第一凹球面反射镜(103-1)的焦面设置孔径光阑;
投影标记组件(102)的像依次经过第一平面反射镜(103-3)、第一凹球面反射镜(103-1)、第一凸球面反射镜(103-2)、第一凹球面反射镜(103-1)、和第二平面反射镜(103-4)反射后成像到待测样品(107)上。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述探测光学组件(104)包括:第三平面反射镜(104-3)、第二凹球面反射镜(104-1)、第二凸球面反射镜(104-2)和第四平面反射镜(104-4);
其中,第二凹球面反射镜(104-1)和第二凸球面反射镜(104-2)的球心重合,在第二凸球面反射镜(104-2)上,且第二凹球面反射镜(104-1)的焦面设置孔径光阑;
携带待测样品形貌信息的投影标记组件(102)的像依次经过第三平面反射镜(104-3)、第二凹球面反射镜(104-1)、第二凸球面反射镜(104-2)、第二凹球面反射镜(104-1)、和第四平面反射镜(104-4)反射后成像到探测标记组件(105)上。
4.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述投影标记组件(102)与第一平面反射镜(103-3)之间的距离为110mm,第一平面反射镜(103-3)与第一凹球面反射镜(103-1)之间的距离为273.423mm,第一凹球面反射镜(103-1)和第一凸球面反射镜(103-2)之间光束传输距离为190.965mm,第一凹球面反射镜(103-1)与第二平面反射镜(103-4)之间的距离为283.421mm,第二平面反射镜(103-4)与待测样品(107)表面的距离为100mm。
5.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述第一凹球面反射镜(103-1)的半径为383.534mm,第一凸球面反射镜(103-2)的半径为192.683mm;第一凹球面反射镜(103-1)的半通光孔径为60mm,第一凸球面反射镜(103-2)的半通光孔径为15mm。
6.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述待测样品(107)表面与第三平面反射镜(104-3)之间的距离为100mm,第三平面反射镜(104-3)与第二凹球面反射镜(104-1)之间的距离为283.421mm,第二凹球面反射镜(104-1)和第二凸球面反射镜(104-2)之间光束传输距离为190.965mm,第二凹球面反射镜(104-1)与第四平面反射镜(104-4)之间的距离为273.423mm,第四平面反射镜(104-4)与探测标记组件(105)之间的距离为110mm。
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