[发明专利]一种用于光学镜面磨制的驻留时间计算方法在审

专利信息
申请号: 202010526886.9 申请日: 2020-06-10
公开(公告)号: CN111753409A 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 顾幸 申请(专利权)人: 南京顺盈达科技有限公司
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;B24B29/02;B24B13/00;B24B1/00
代理公司: 南京睿之博知识产权代理有限公司 32296 代理人: 杨雷
地址: 210008 江苏省南京市江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 光学 磨制 驻留 时间 计算方法
【说明书】:

一种用于光学镜面磨制的驻留时间计算方法,属于光学镜面面形加工的技术领域。通过光学干涉仪或者三坐标机,检测镜面,获得镜面上的误差分布;确定磨头的工作参数,对行星磨头而言,磨头的工作参数是:公转、自转的转速,偏心的距离、抛光压力、抛光盘直径,并获得单位时间内的材料去除函数分布;设定好磨头中心可行区域大小和位置;进行区域划分计算,形成加工关系矩阵,启动主迭代和子迭代,完成迭代优化,让驻留时间的负值趋近于零;输出驻留时间计算结果,并进行加工仿真,获得加工后的镜面形状。本发明能够对加工过程进行精确描述;降低内存的消耗量,同时能够在计算过程中观察误差收敛的曲线,通过人机交互设定收敛条件,确保计算的有效性。

技术领域

本发明属于光学镜面面形加工的技术领域,尤其涉及用于光学镜面磨制的驻留时间计算方法的技术领域。

背景技术

光学镜面广泛应用于科学研究、航空航天等领域,是天文望远镜、侦察卫星、激光核聚变、医疗影像设备的核心部件。光学镜面的制造过程中。细磨、抛光阶段的误差去除特别重要,目前常用的方法是采用小口径磨制工具,比如行星磨头、离子束、磁流变工具等在计算机控制下定量去除误差,去除的有效性依赖于工具在镜面各处的驻留时间,因此有效的驻留时间计算是磨制的核心。目前采用的驻留时间计算方法有:

1、傅里叶变换法:将空间域的卷积运算等效到频率域的乘积运算,在频率域内解算出驻留时间的频域表达,通过反傅里叶变换获得驻留时间;

2、脉冲迭代法,或者简森-范希图特法:给出一个合适的初始值,以卷积运算为基础进行迭代运算;

3、基于矩阵的求解方法:它根据光学磨制的实际物理过程,将卷积运算变成矩阵的乘积运算,不仅能适应不对称的材料去除函数,而且可以在一次收敛中使用不同的去除函数,实现组合加工。

傅里叶变换法和脉冲迭代法由于计算存在时间负值问题、镜面边缘截断、迭代不收敛等问题,使用受到限制。基于矩阵的求解方法在使用过程中也存在需要解决的问题:

(1)磨头的材料去除函数覆盖一个小的区域,被加工的镜面也是一个大的区域,两者的几何关系需要明确,才能列写加工关系矩阵,目前对这方面的论述不足,导致两者关系模糊,控制边缘效应困难。

(2)当磨制的镜面口径较大时,描述磨制过程的矩阵维数极高,成为一个超大规模的稀疏矩阵,其存储和计算不便捷;

计算获得的驻留时间不能为负值,也就是镜面磨制的深度不能超过设定的最低点,而去除函数的能力是有限的,在这些约束条件下,零误差的完美加工是不现实的,总有残留误差存在。残留误差量是多少,在计算前是未知的,因此难以设定计算的收敛标准。

发明内容

本发明提供了一种用于光学镜面磨制的驻留时间计算方法,能够对加工过程进行精确描述;降低内存的消耗量,同时能够在计算过程中观察误差收敛的曲线,通过人机交互设定收敛条件,确保计算的有效性。

一种用于光学镜面磨制的驻留时间计算方法,包括如下步骤:

步骤S1:通过光学干涉仪或者三坐标机,检测镜面,获得镜面上的误差分布;

步骤S2:确定磨头的工作参数,对行星磨头而言,磨头的工作参数是:公转、自转的转速,偏心的距离、抛光压力、抛光盘直径,并获得单位时间内的材料去除函数分布;

步骤S3:设定好磨头中心可行区域大小和位置;

步骤S4:进行区域划分计算,形成加工关系矩阵,启动主迭代和子迭代,完成迭代优化,让驻留时间的负值趋近于零;

步骤S5:输出驻留时间计算结果,并进行加工仿真,获得加工后的镜面形状。

优选的,本发明步骤S4中的进行区域划分计算,具体包括:

步骤S411:读入磨头中心可行区域A;

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