[发明专利]辐射检测装置

说明书

本公开提供一种辐射检测装置包括检测面板。检测面板包括多个第一像素沿着数据线延伸方向排列为第一排、多个第二像素沿着数据线延伸方向排列为第二排以及另多个第二像素沿着数据线延伸方向排列为第三排。所述多个第一像素的每一个包括第一开关，并且所述多个第二像素以及所述另多个第二像素的每一个包括第二开关。所述多个第二像素以及所述另多个第二像素的每一个包括光电二极管。所述多个第一像素不包括光电二极管，即所述多个第二像素的每一个相较于所述多个第一像素还包括与所述第二开关电性连接的光电二极管。

技术领域

本公开涉及一种检测设备，尤其涉及一种辐射检测装置。

背景技术

对于一般的辐射检测装置的去除基本背景值(offset)的处理上，通常会受到动态因素的影响，其中包括读出电路芯片的模拟至数字转换器的变异，或者是来自栅极端的电源噪声等，甚至读出电路芯片的模式切换也会影响操作温度，进而影响到检测值。换言之，由于如上述动态因素的影响，一般的辐射检测装置在取得基本背景值信息的过程中，所取得的基本背景值信息实际上已与检测的曝光信息之间存在差异。对此，一般的校正方式仅是通过遮蔽光电二极管(photodiode)的方式来避免曝光的影响，但是由于连接光电二极管的电路回路理论上会存在暗电流或其他缺陷的影响，因此一般的辐射检测装置无法提供适当的基本背景值信息。有鉴于此，以下将提出几个实施例的解决方案。

发明内容

本公开是针对一种辐射检测装置，可有效地取得背景噪声来用于校正辐射检测结果。

根据本公开的实施例，本公开的辐射检测装置包括检测面板。检测面板包括多个第一像素沿着数据线延伸方向排列为第一排、多个第二像素沿着数据线延伸方向排列为第二排以及另多个第二像素沿着数据线延伸方向排列为第三排。所述多个第一像素的每一个包括第一开关。所述多个第二像素以及所述另多个第二像素的每一个包括第二开关。所述多个第二像素以及所述另多个第二像素的每一个包括光电二极管，并且所述多个第一像素不包括光电二极管，即所述多个第二像素以及所述另多个第二像素的每一个相较于所述多个第一像素还包括与第二开关电性连接的光电二极管。

根据本公开的实施例，本公开的辐射检测装置包括检测面板。检测面板包括偏压线、第一像素以及第二像素。第一像素以及第二像素的分别包括开关与光电二极管。所述多个第一像素与偏压线电性绝缘。所述多个第二像素与偏压线电性连接。

基于上述，本公开的辐射检测装置可通过不具有光电二极管的像素或是与偏压线电性绝缘的像素来提供合适的背景噪声，以有效地取得背景噪声用于校正辐射检测结果。

为让本公开的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图作详细说明如下。

附图说明

图1是依照本公开的一些实施例中的辐射检测装置的电路示意图；

图2是依照本公开的一些实施例中的辐射检测装置的电路示意图；

图3是依照本公开的一实施例的像素电路示意图；

图4是依照本公开的一些实施例中的辐射检测装置的电路示意图。

附图标记说明

100、200、400:辐射检测装置；

100P、200P、400P:检测面板；

101、102、201、202、401、402:读出电路；

110R、110_1～110_N、120R、120_1～120_N、130R、130_1～130_N、140R、140_1～140_N、210R、210_1～210_N、220R、220_1～220_N、230R、230_1～230_N、240R、240_1～240_N、310R、410_1～410_M、420_1～420_M、430_1～430_N、440_1～440_N:像素；