[发明专利]碳同位素测试样品制备装置及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202010530930.3 申请日: 2020-06-11
公开(公告)号: CN111537310A 公开(公告)日: 2020-08-14
发明(设计)人: 刘圣华;杨庆华;史慧霞 申请(专利权)人: 中国地质科学院水文地质环境地质研究所
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N1/44
代理公司: 深圳市智胜联合知识产权代理有限公司 44368 代理人: 齐文剑
地址: 050061 河北省*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 同位素 测试 样品 制备 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种碳同位素测试样品制备装置,所述装置用于提取原始样品中的目标组分进行测试样品的制备,其特征在于,

包括至少一个样品制备反应结构;用于将反应试剂导入所述样品制备反应结构的加液结构;用于将气体导入至所述样品制备反应结构进行反应试剂搅拌的气体搅拌结构;用于分别驱动所述样品制备反应结构、所述加液结构和所述气体搅拌结构的控制单元;

所述加液结构,以及所述气体搅拌结构分别与所述样品制备反应结构连通;所述控制单元分别与所述样品制备反应结构、所述加液结构和所述气体搅拌结构电连接,具体地,所述控制单元驱动所述加液结构将反应试剂导入所述样品制备反应结构;所述控制单元驱动所述气体搅拌结构将用于搅拌所述样品制备反应结构内反应试剂的气体导入所述样品制备反应结构;所述控制单元驱动所述样品制备反应结构的启动和关闭。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括用于收集所述样品制备反应结构的反应废液的回收结构,

所述回收结构与所述样品反应结构连通,并与所述控制单元电连接;具体地,所述控制单元驱动所述回收结构将所述样品制备反应结构中的反应废液吸出回收。

3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述回收结构包括第一集分器、第一蠕动泵、第一多通道控制阀和多个废液桶;

所述第一多通道控制阀的出液口与所述废液桶对应并连通;所述第一集分器的进液口与所述样品制备反应结构对应并连通;所述第一多通道控制阀的进液口通过所述第一蠕动泵与所述第一集分器出液口连通;

所述控制单元驱动所述第一多通道控制阀的通断以及所述第一蠕动泵的开关,具体地,所述控制单元通过驱动所述第一蠕动泵吸出各个所述样品制备反应结构中的反应废液,并通过驱动所述第一多通道控制阀的通断将反应废液导流至对应的所述废液桶。

4.根据权利要求3所述的装置,其特征在于,所述样品制备反应结构包括:样品制备反应器,用于加热所述样品制备反应器的加热组件;

所述样品制备反应器设置于所述加热组件的加热腔内;所述样品制备反应器通过进液管与所述加液结构连通;所述样品制备反应器通过搅拌气管与所述气体搅拌结构连通;所述样品制备反应器通过反应废液管与所述回收结构中的第一集分器的进液口连通;

所述控制单元与所述加热组件电连接,具体地,所述控制单元通过驱动所述加热组件的开关对所述样品制备反应器进行加热。

5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,还包括用于对所述样品制备反应结构进行移动的二维移动装置,

所述二维移动装置包括第一Z轴升降平台、第二Z轴升降平台、X轴移动平台、Z轴升降导轨、X轴移动导轨和底盘;

所述Z轴升降导轨垂直固设于所述底盘的表面,所述X轴移动导轨水平固设于所述底盘的表面;

所述第一Z轴升降平台和所述第二Z轴升降平台分别与所述Z轴升降导轨活动连接,并通过对应的Z轴步进电机沿所述Z轴升降导轨的方向上下移动,其中,所述第一Z轴升降平台位于所述第二Z轴升降平台的上方;所述X轴移动平台与所述X轴移动导轨活动连接,并并通过X轴步进电机沿所述X轴移动导轨的方向前后移动;

所述控制单元分别与所述Z轴步进电机和所述X轴步进电机电连接,驱动所述Z轴步进电机和所述X轴步进电机的开关;

所述反应废液管固定于所述二维移动装置的所述第一Z轴升降平台,所述反应废液管贯穿所述样品制备反应器的腔塞将管体穿入所述样品制备反应器的反应腔内,所述反应废液管随所述第一Z轴升降平台进行沿Z轴方向的上下移动,以调整穿入所述反应腔内的管体长度;

所述腔塞固定于所述二维移动装置的所述第二Z轴升降平台,且所述腔塞与所述反应腔紧密连接,所述腔塞带动所述反应腔随所述第二Z轴升降平台进行沿Z轴方向的上下移动;

所述加热结构固定于所述二维移动装置的所述X轴移动平台,随所述X轴移动平台进行沿X轴方向的前后移动。

6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述样品制备反应结构包括用于检测所述反应腔内反应试剂面高度的液面高度探头;

所述液面高度探头贯穿所述腔塞穿入所述反应腔内;

所述控制单元与所述液面高度探头电连接,接收所述液面高度探头反馈的电信号。

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