[发明专利]存储装置及其低级格式化方法

权利要求书

1.一种存储装置的低级格式化方法，所述存储装置具有多个存储区块，其特征在于，包括：

搜寻所述存储装置的所述多个存储区块中，是否已存在一可靠性及寿命周期测试结果或一固件储存信息，其中，所述可靠性及寿命周期测试结果包含所述存储装置的一擦写次数纪录及一写入太字节纪录，以及所述固件储存信息包含所述存储装置的所述擦写次数纪录及所述写入太字节纪录；

若所述存储装置的所述多个存储区块中存在有所述可靠性及寿命周期测试结果或所述固件储存信息，则判断所述擦写次数纪录及所述写入太字节纪录是否记载所述存储装置的擦写次数及写入太字节；

若所述存储装置的所述多个存储区块中不存在所述可靠性及寿命周期测试结果及所述固件储存信息，则将所述存储装置的所述擦写次数及所述写入太字节的默认值写入所述存储装置的所述存储区块；

若所述擦写次数纪录及所述写入太字节纪录有记载所述存储装置的所述擦写次数及所述写入太字节，则将所记载的擦写次数及写入太字节的值写入所述存储装置的所述存储区块；以及

若所述擦写次数纪录及所述写入太字节纪录未记载所述存储装置的所述擦写次数及所述写入太字节，则将所述存储装置的所述擦写次数及所述写入太字节的默认值写入所述存储装置的所述存储区块。

2.如权利要求1所述的存储装置的低级格式化方法，其特征在于，另包含确认所述擦写次数纪录及所述写入太字节纪录的有效性。

3.如权利要求1所述的存储装置的低级格式化方法，其特征在于，另包括：

读取所述存储装置的所述存储区块；

由所述存储装置的所述存储区块取得所述擦写次数纪录及所述写入太字节纪录；以及

将所取得的所述擦写次数纪录及所述写入太字节纪录整合成为所述可靠性及寿命周期测试结果。

4.如权利要求1所述的存储装置的低级格式化方法，其特征在于，在所述存储装置的所述多个存储区块中，储存着所述存储装置于不同时间点的所述擦写次数纪录及所述写入太字节纪录，所述方法另包括：

读取所述存储装置的所述存储区块；

取得所述存储装置的最新时间点的所述擦写次数纪录及所述写入太字节纪录；以及

将所取得的所述擦写次数纪录及所述写入太字节纪录写回所述存储装置的所述多个存储区块中的一既定存储区块，以产生所述固件储存信息。

5.如权利要求1所述的存储装置的低级格式化方法，其特征在于，所述存储装置为闪存存储装置。

6.如权利要求3所述的存储装置的低级格式化方法，其特征在于，在所述擦写次数纪录及所述写入太字节纪录的取得及写入的过程中，所述的存储装置的低级格式化方法另包含：

测试所述存储装置的所述多个存储区块；以及

将所述多个存储区块的测试结果写入所述可靠性及寿命周期测试结果内。

7.如权利要求6所述的存储装置的低级格式化方法，其特征在于，所述多个存储区块的测试结果、所述擦写次数纪录及所述写入太字节纪录将整合成为所述可靠性及寿命周期测试结果。