[发明专利]光电探测单元、光电探测组件以及激光测距器件

权利要求书

1.一种光电探测单元，其特征在于，包括：

基底；

光电探测结构，形成于所述基底内，用于接收光信号并转换为电信号；

后端电路，形成于所述基底内，用于对所述光电探测结构形成的电信号进行处理后通过数据端口输出，所述后端电路与所述光电探测结构沿X轴方向并排分布，所述X轴方向平行于基底顶面；

光学组件，沿Y轴方向叠设于所述基底上，所述光学组件具有朝向所述光电探测单元一侧的入光面，所述入光面接收自所述光电探测单元侧面入射的光线并调节所述光线的路径以使所述光线入射至所述光电探测结构上，所述Y轴方向垂直于基底顶面。

2.如权利要求1所述的光电探测单元，其特征在于，所述光学组件位于所述光电探测结构的上方。

3.如权利要求1所述的光电探测单元，其特征在于，所述光学组件包括反射结构，所述光学组件将入射至所述入光面上的光线反射至所述光电探测结构上。

4.如权利要求1至3任一项所述的光电探测单元，其特征在于，所述光电探测结构包括单个单光子探测器、单光子探测器阵列、硅光电倍增管以及硅光电倍增管阵列中的任意一种。

5.一种光电探测组件，其特征在于，包括多个如权利要求1至4任一项所述的光电探测单元，各所述光电探测单元具有朝X轴方向相对设置的第一侧面和第二侧面，其中，所述第一侧面位于所述光电探测结构背离所述后端电路的一侧，所述光电探测单元沿Y轴方向和/或Z轴方向排布，各所述光电探测单元的第一侧面位于所述光电探测组件的同一侧。

6.如权利要求5所述的光电探测组件，其特征在于，各所述光电探测单元的第一侧面相互对齐，各所述光电探测单元的第二侧面相互对齐。

7.如权利要求5所述的光电探测组件，其特征在于，各所述光电探测单元的第一侧面相互对齐，各所述光电探测单元的第二侧面形成台阶结构。

8.如权利要求5至7任一项所述的光电探测组件，其特征在于，所述数据端口自所述基底的顶面和/或底面引出，相邻所述光电探测单元的数据端口依次连接。

9.如权利要求5至7任一项所述的光电探测组件，其特征在于，所述数据端口自所述基底的第二侧面引出，各所述数据端口相互连接。

10.一种激光测距器件，其特征在于，还包括激光发射器和光电探测组件，其中，所述光电探测组件为权利要求5至9任一项所述的光电探测组件，所述激光发射器发射的光线经目标物体反射后朝向所述光电探测组件的侧面发射。

11.如权利要求10所述的激光测距器件，其特征在于，所述激光发射器夹设于光电探测单元之间。

12.如权利要求11所述的激光测距器件，其特征在于，所述激光测距器件包括N个所述激光发射器，N个所述激光发射器均匀分布于所述光电探测组件内，N≥1。