[发明专利]显示面板、电子设备和显示面板的控制方法有效

专利信息
申请号: 202010543842.7 申请日: 2020-06-15
公开(公告)号: CN111489672B 公开(公告)日: 2023-08-15
发明(设计)人: 刘育存 申请(专利权)人: 业成科技(成都)有限公司;业成光电(深圳)有限公司;英特盛科技股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G09G3/20;H05F3/00
代理公司: 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 代理人: 杨冬梅;张行知
地址: 611730 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 显示 面板 电子设备 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种显示面板,其特征在于,包括:

多个子像素;

多个像素电路,所述像素电路包括:

像素测试单元,与至少一个所述子像素连接,用于为连接的所述子像素提供测试数据信号;

静电释放单元,与所述像素测试单元连接,用于在所述像素测试单元关闭时释放所述像素测试单元上的残余电荷;

其中,所述像素测试单元和所述静电释放单元分时开启;

所述像素测试单元包括第一开关器件,所述第一开关器件与所述子像素连接,用于控制所述子像素的所述测试数据信号的传输通路的通断;

所述静电释放单元包括开关特性相同的多个第二开关器件,所述第二开关器件与所述像素测试单元连接,用于控制所述像素测试单元的静电释放通路的通断;

所述像素电路还包括控制信号线,用于传输控制信号,所述控制信号用于控制所述第一开关器件和所述第二开关器件在点灯测试阶段分时交替开启,所述控制信号还用于根据待点灯测试的画面的数量和显示面板的静电电荷的累积速度,选择所述像素测试单元和所述静电释放单元的开启时间和频次,以使得显示面板在不会受到静电损伤的前提下,提高点灯测试的效率。

2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,多个所述子像素呈阵列设置,位于同一列的多个所述子像素连接至同一所述像素测试单元。

3.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述第一开关器件的开关特性与所述第二开关器件的开关特性相反,其中,所述开关特性包括高电压开启和低电压开启。

4.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述像素测试单元还包括测试数据线,多个所述第一开关器件的控制端分别与所述控制信号线连接,多个所述第一开关器件的输入端分别与相应的所述测试数据线连接,多个所述第一开关器件的输出端分别与相应的所述子像素连接。

5.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述静电释放单元还包括接地线,多个所述第二开关器件的控制端分别与所述控制信号线连接,多个所述第二开关器件的输入端分别与所述接地线连接,多个所述第二开关器件的输出端分别与相应的所述测试数据线连接。

6.根据权利要求3至5任一项所述的显示面板,其特征在于,所述第一开关器件为N型MOS管,所述第二开关器件为P型MOS管。

7.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,还包括:

源极驱动芯片,用于提供所述子像素的显示数据信号;

显示数据线,设于所述源极驱动芯片和所述子像素之间,用于传输所述显示数据信号。

8.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,每个所述像素电路包括多个所述静电释放单元。

9.一种电子设备,其特征在于,包括如权利要求1至8任一项所述的显示面板。

10.一种显示面板的控制方法,用于控制如权利要求1至8任一项所述的显示面板,其特征在于,包括:

控制静电释放单元关闭,并控制像素测试单元开启,以向相应的子像素提供测试数据信号;

控制所述像素测试单元关闭,并控制所述静电释放单元开启,以释放相应的所述像素测试单元上的残余电荷。

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