[发明专利]一种光阑及其制备方法在审
申请号: | 202010546541.X | 申请日: | 2020-06-15 |
公开(公告)号: | CN111624689A | 公开(公告)日: | 2020-09-04 |
发明(设计)人: | 陈怀熹;梁万国;张新彬;冯新凯;李广伟;古克义;黄玉宝 | 申请(专利权)人: | 中国科学院福建物质结构研究所 |
主分类号: | G02B5/00 | 分类号: | G02B5/00;G03F7/20 |
代理公司: | 北京元周律知识产权代理有限公司 11540 | 代理人: | 张梅娟 |
地址: | 350002 福建*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光阑 及其 制备 方法 | ||
1.一种光阑的制备方法,其特征在于,包括:
制备光阑矢量图对应的掩膜板;
在光阑基底的表面设置反射膜层;
在所述反射膜层上涂覆光刻胶,将所述掩膜板与所述光阑基底对准,依次进行曝光和显影,得到具有光阑矢量图图案的掩膜层;
利用刻蚀方法刻蚀具有掩膜层的所述光阑基底,得到光阑图案。
2.根据权利要求1所述的光阑的制备方法,其特征在于,利用刻蚀方法刻蚀具有掩膜层的所述光阑基底,得到光阑图案之后,还包括:
在所述光阑基底远离所述反射膜层的表面设置增透膜。
3.根据权利要求2所述的光阑的制备方法,其特征在于,所述光阑矢量图的形状为渐变锯齿状、渐变透射点状、渐变牛顿环状中的一种。
4.根据权利要求1所述的光阑的制备方法,其特征在于,所述反射膜层为高损伤阈值反射膜层。
5.根据权利要求1所述的光阑的制备方法,其特征在于,所述光阑基底的材料为石英、高损伤阈值晶体窗口材料或者金属薄板中的一种。
6.根据权利要求1所述的光阑的制备方法,其特征在于,所述掩膜层的厚度大于或等于所述反射膜层的厚度。
7.根据权利要求1所述的光阑的制备方法,其特征在于,在所述利用刻蚀方法刻蚀具有掩膜层的所述光阑基底,得到光阑图案之后,还包括:
清洗已刻蚀完成的所述光阑基底上的残余掩膜层。
8.根据权利要求1~7任一项所述的光阑的制备方法,其特征在于,所述利用刻蚀方法刻蚀具有掩膜层的所述光阑基底,具体为:
利用离子刻蚀方法刻蚀具有掩膜层的所述光阑基底。
9.根据权利要求1所述的光阑的制备方法,其特征在于,所述在光阑基底的表面设置反射膜层之前还包括:
清洗所述光阑基底。
10.一种光阑,其特征在于,由权利要求1~9任一项所述的光阑的制备方法制备得到。
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