[发明专利]一种坑压式接触件压接质量的可视化检测方法有效

专利信息
申请号: 202010548751.2 申请日: 2020-06-16
公开(公告)号: CN111665267B 公开(公告)日: 2023-06-13
发明(设计)人: 林殿夫;王震;王飞;毛文陆;刘玺伟 申请(专利权)人: 沈阳兴华航空电器有限责任公司
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00;G01N21/84;G01N1/28;G01N1/32;G01N1/36
代理公司: 沈阳易通专利事务所 21116 代理人: 邢慧清
地址: 110000 辽宁省沈*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 坑压式 接触 件压接 质量 可视化 检测 方法
【说明书】:

发明提供了一种坑压式接触件压接质量的可视化检测方法,解决了现有的接触体与导线压接质量检测不能直观、深入地进行检测,压接质量问题常具有隐蔽性的问题。本发明的检测方法综合压痕、金相两种微观组合可视化,可以从根本上掌握接触件的压接情况,提早识别出质量风险,可作为验收、归零和压接研究的重要依据。

技术领域

本发明属于接触件压接工艺技术领域,涉及一种坑压式接触件压接质量的可视化检测方法。

背景技术

线束产品是设备电路网络的主体,其中以连接器与导线线芯的电连接最为关键。为满足连接器向小型化方向发展,绝大多数采用坑压式压接,而其压接质量问题常具有隐蔽性,往往在投用很久后才逐渐暴露,近年来线束产品的问题屡见不鲜。

坑压式压接是通过压接钳来完成,依靠控制压力和钳口的位移,把接触件压线筒与导线紧密连接,形成坑窝压痕。在压接过程中,应避免欠压、过压。欠压会导致接触件与导线之间空隙过大,线束产品耐拉伸、弯折、振动的能力均会削减;过压会增加压接筒对线芯的径向剪切,损伤线芯,甚至压坏压接筒,影响电导通。线芯送入不到位、压接钳档位不正确、接触件取送不规范、接触件和线芯的硬度过高均会导致欠压、过压的发生。

当前压接标准中规定的检验方法均为通过测量耐拉力、接触电阻等耐环境的宏观指标,用以间接评价接触件压接质量的好坏,对微观组织的检验分析方法不够深入,因此对压接的微观组织可视化研究应运而生。

发明内容

为了解决上述技术问题,本发明提供一种坑压式接触件压接质量的可视化检测方法,该检测方法综合压痕、金相两种微观组合可视化,可以从根本上掌握接触件的压接情况,提早识别出质量风险,可作为验收、归零和压接研究的重要依据。

为了达到上述目的,本发明采用如下技术方案:

一种坑压式接触件压接质量的可视化检测方法,用于对坑压式接触体件与导线压接质量的检测,所述坑压式接触件包括接触件本体,所述接触件本体的尾段为压接筒,在压接筒上设有观察孔,该检测方法包括如下步骤:

(1)取接触件样品,选取与所述接触件样品相适配的导线、压接钳钳口档位,按压接手册进行规范地压接;

(2)将压接后的接触件样品采用电子显微仪观察纵向压接情况,得到并保留样品纵向的压痕显微图;

(3)将压接后的接触件样品采用金相显微仪获取横向的截面金相图;

(4)将步骤(2)得到的压痕显微图和步骤(3)得到截面金相图作为标准图样,为该种接触件的压接合格依据;

(5)另取与所述接触件样品同种待测接触件,在与适配的导线经压接钳压接后,将压接后的待测接触件采用电子显微仪观察纵向压接情况,得到待测接触件纵向的压痕显微图,同时获取待测接触件横向的截面金相图;

(6)将所述步骤(5)得到的待测接触件的压痕显微图和截面金相图与所述步骤(4)的接触件样品标准图样进行对比,其中压痕显微图查看过压情况,截面金相图查看欠压情况,将两者综合分析得出待测接触件压接的质量。

进一步地,所述坑压式接触件压接质量的可视化检测方法还包括压接质量验证,具体验证方法为:

针对所有压接后的待测接触件,分别选取几个同状态备件进行实物验证,验证包括拉力边界试验和弯折边界试验,对承受拉力和承受弯折次数进行验证,再与所述步骤(6)待测接触件压接质量分析结果进行比对,得出最终检测结论。

进一步地,所述截面金相图的获取具体方法为:

步骤a、切取:用切线钳将接触件压接后的导线进行剪切,去除待测接触件的压接筒外部的导线;

步骤b、镶样:

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