[发明专利]材料热延伸测试装置

说明书

本发明涉及材料检测技术领域，尤其涉及一种材料热延伸测试装置，包括内部中空形成测试腔的测试箱、内部中空形成准备腔的准备箱以及用于夹持样品和悬挂负载的夹具，夹具可升降地设于准备腔内，准备箱置于测试箱的上表面，且准备腔与测试腔之间通过可供夹具通过的进样口相连通，进样口处设有将进样口开启或关闭的封门。在向测试腔内放入样品的过程中，测试腔仅通过进样口与准备腔发生微小的气体对流，而不会与装置周围环境气体产生对流，因此放样过程中测试腔的温度波动会很小，或者仅有微小幅度的下降，靠测试箱自身的回温和控温能力即可在较短时间内恢复至测试温度，极大地缩短了测试腔内测试温度的恢复时间，可使测试结果更加精确。

技术领域

本发明涉及材料检测技术领域，尤其涉及一种材料热延伸测试装置。

背景技术

热延伸性能是反映交联型电缆的绝缘和护套材料交联程度的重要性能参数，准确地测出电缆的绝缘和护套材料的热延伸结果，不仅可以判定所测电缆的绝缘和护套材料的交联程度是否满足标准要求，还可以帮助调整和改进电缆生产工艺参数，有助于产品质量的提高。

现有的用于检测材料热延伸性能的测试装置在实际操作过程中，在打开烘箱门、将加挂负载的样品挂在测试支架的时间里，烘箱内部与测试装置周围环境产生气体对流，烘箱内部温度会明显下降，需要在短时间内使烘箱内温度回到测试温度，一方面对测试操作人员要求极高，需要测试员操作迅速，另一方面对烘箱的回温和控温能力的要求也很高，需要烘箱能够在短时间内恢复至测试温度，而大部分现有烘箱无法满足这一需求。实际测试过程中，如果测试温度恢复时间过长，或者每个实验室测试温度恢复的时间差别过大，一方面测试结果的准确性和一致性无法考量，另一方面也增加了测试耗时、影响工作效率。

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种材料热延伸测试装置，能够缩短测试温度的恢复时间，以克服现有技术的上述缺陷。

为了解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：一种材料热延伸测试装置，包括内部中空形成测试腔的测试箱、内部中空形成准备腔的准备箱以及用于夹持样品和悬挂负载的夹具，夹具可升降地设于准备腔内，准备箱置于测试箱的上表面，且准备腔与测试腔之间通过可供夹具通过的进样口相连通，进样口处设有将进样口开启或关闭的封门。

优选地，还包括用于悬挂一个或多个夹具的测试杆，测试杆可升降地设于准备腔内并可通过进样口进入测试腔。

优选地，测试杆的两端分别可上下滑动地支撑在支撑杆上，支撑杆的上端位于准备腔内，且下端穿过进样口伸入测试腔内。

优选地，测试腔内设有底座架，支撑杆的下端安装在底座架上。

优选地，还包括悬挂杆，悬挂杆可转动地设于准备腔内，测试杆通过缠绕于悬挂杆上的悬挂丝悬挂在悬挂杆上。

优选地，还包括用于驱动悬挂杆转动的摇杆，摇杆的一端与悬挂杆相连接，且另一端伸出准备箱。

优选地，准备箱上设有用于将摇杆固定的夹持件。

优选地，测试腔内设有用于支撑测试杆的支撑块，测试杆进入测试腔后搁置于支撑块上。

优选地，还包括用于驱动封门移动的拉杆，拉杆的一端与封门相连接，且另一端伸出准备箱。

优选地，测试腔内设有竖直放置的标尺。

与现有技术相比，本发明具有显著的进步：