[发明专利]基于多级加速因子的弹上电子产品贮存期加速试验方法

说明书

本发明公开了基于多级加速因子的弹上电子产品贮存期加速试验方法，能够计算出的试验时间更加符合武器装备电子产品的真实贮存期，从而使得验证结果更精确。该方法具体为：获取弹上电子装备的贮存期及贮存可靠度。对弹上电子装备所有的电子元器件获取激活能和失效率，并按照失效率降序排序并设定权重，所有电子元器件的激活能加权求和作为弹上电子装备的激活能；确定贮存期加速试验的最高应力和最低应力，并划分应力等级；选取加速试验模型，结合弹上电子装备的激活能，针对所划分的每个应力等级均求解一个加速因子；结合弹上电子装备的贮存期、贮存可靠度以及所有加速因子之和，确定试验时间tsubgt;a/subgt;；针对每个应力等级，均进行为期tsubgt;a/subgt;的贮存期加速试验。

技术领域

本发明涉及航天可靠性试验技术领域，具体涉及基于多级加速因子的弹上电子产品贮存期加速试验方法。

背景技术

导弹武器装备是“长期贮存，一次使用”的产品，贮存期是指在规定的贮存条件下，满足规定贮存可靠度要求的贮存时间，是导弹武器重要的技术指标之一，在设计定型之前就需要对贮存期进行验证。对于贮存期的验证，一般通过加速试验的方法进行验证，在试验过程中需要提前计算试验时间。

目前，计算试验时间一般涉及激活能的计算，已有的确定激活能的方法一般是采用最薄弱的元器件的激活能或者直接采用一个固定值来替代产品的激活能，这种方式无法反应整个武器装备的整体激活能，往往导致试验时间的计算精度不高。

且现有的试验时间确定过程往往采用一级应力进行计算，而很多武器装备，一级应力往往无法激发产品故障，由此确定的试验时间来进行试验导致对武器装备电子产品贮存期验证效果不佳。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了基于多级加速因子的弹上电子产品贮存期加速试验方法，能够获取较为准确地激活能数据，同时对试验应力进行等级划分，得到不同应力下的加速因子，从而使得计算出的试验时间更加符合武器装备电子产品的真实贮存期，从而使得验证结果更精确。

为达到上述目的，本发明的技术方案为：基于多级加速因子的弹上电子产品贮存期加速试验方法，其特征在于，包括如下步骤：

对弹上电子装备的贮存期指标进行分析，获取弹上电子装备的贮存期及贮存可靠度。

对弹上电子装备所用到的所有电子元器件，获取各电子元器件激活能和失效率，并按照失效率由大到小对所有电子元器件进行排序，按照排序顺序设定权重，所有电子元器件的激活能加权求和作为弹上电子装备的激活能；

确定贮存期加速试验的最高应力和最低应力，并划分应力等级；

选取加速试验模型，结合弹上电子装备的激活能，针对所划分的每个应力等级均求解一个加速因子；

结合弹上电子装备的贮存期、贮存可靠度以及所有加速因子之和，确定试验时间t；

针对每个应力等级，均进行为期t_a的贮存期加速试验。

进一步地，对弹上电子装备所用到的所有电子元器件，获取各电子元器件激活能和失效率，其特征在于：对各电子元器件，在其元器件手册中获取激活能。在GJB/Z 108A-2006中获取各电子元器件的失效率。

进一步地，按照失效率由大到小对所有电子元器件进行排序，按照排序顺序设定权重，所有电子元器件的激活能加权求和作为弹上电子装备的激活能，具体为：弹上电子装备所用到的所有电子元器件数量为n个；按照失效率由大到小对所有电子元器件进行排序，第i元器件失效率为λ_i，激活能为E_i；i取值为[1,n]范围内所有整数；

则弹上电子装备的激活能为

进一步地，确定贮存期加速试验的最高应力和最低应力，并划分应力等级，具体为：