[发明专利]一种通用电子元器件测试装置

说明书

本发明涉及一种通用电子元器件测试装置，包括：电源电路、外部信号控制电路、ARM高速处理器、自定义电压电流输出电路、双向总线控制矩阵电路、功能测试电路、高速通信扩展矩阵模拟切换电路，电源电路、外部信号控制电路、自定义电压电流输出电路都与ARM高速处理器连接，功能测试电路与双向总线控制矩阵电路连接，高速通信扩展矩阵模拟切换电路与自定义电压电流输出电路连接，高速通信扩展矩阵模拟切换电路通过多个通道与外部被测产品连接。本发明无需专业人员编程，普通人员就可使用专用上位机调试软件完成设置本装置的工作功能，具有完全通用性，测试功能、电源供电、多通道扩展、通信方式和速率，都可以用户自定义。

技术领域

本发明属于电子元器件领域，尤其涉及一种通用电子元器件测试装置。

背景技术

目前，传统的电子元器件多通道测试装置见图1。其输入电源为外部电源24或12V供电。经内部降压电路5V输出给LDO转换成3.3V和1.8V。3.3V和1.8V通过固定端口给外部被测产品供电，需要连接相应的电压时，人工跳线至固定电压端口(因产品需要供电的通道号非常不固定)。测试装置自带AD模块，根据测试产品的被测功能要求，人工跳线连接各种测试功能模块，比如测试电容，需外接电容模块，需要电流，则人工连接外部电路模块等。相关测试软件需要专业编程人员调试好底层软件烧录到MCU处理器里面运行。测试通道通过模拟芯片或继电器进行扩展。CPU处理器的通过固定串口和外部通信。

传统的电子元器件多通道测试装置，存在以下缺点：低速CPU处理器和固定硬件模块，测试效率低；产品供电需要专业人员跳线至指定电源通道，增加人力成本；产品测试时，除了电压电阻相关，都需要人工跳线外挂功能测试模块。增加人力成本，并且不能通用性；所有功能实现，都必须专业程序员底层编程，包括测试功能、测试流程、通信波特率、供电控制等等；增加了人力成本和调试周期。并且无法通用；不能快速更换测试产品流程、内容和项目。

发明内容

为了解决现有技术中存在的上述技术问题，本发明提供了一种一种通用电子元器件测试装置，主要应用在工业场合下电子元器件产品多功能、多通道测试；测试内容包含电阻测试、电容测试、电压测试、压降测试、电流测试、通信测试、特殊芯片功能性测试。适合快速更换测试程序，硬件通用所有测试要求。

为实现上述目的，本发明是根据以下技术方案实现的：

一种通用电子元器件测试装置，包括：电源电路、外部信号控制电路、ARM高速处理器、自定义电压电流输出电路、双向总线控制矩阵电路、功能测试电路、高速通信扩展矩阵模拟切换电路，所述电源电路、所述外部信号控制电路、所述自定义电压电流输出电路都与所述ARM高速处理器连接，所述功能测试电路与所述双向总线控制矩阵电路连接，所述高速通信扩展矩阵模拟切换电路与所述自定义电压电流输出电路连接，所述高速通信扩展矩阵模拟切换电路通过多个通道与外部被测产品连接；

其中，所述电源电路用于将外部电源24V转化为12V、5V、3.3V、2.5V、1.8V电源给其他电路供电；

所述外部信号控制电路用于通过所述ARM高速处理器接收和输出外部24V控制信号；

所述ARM高速处理器用于解码存储电路的编码数据，并执行相应指令；

所述自定义电压电流输出电路由所述ARM高速处理器控制并达到自定义电压或电流的输出控制；

所述ARM高速处理器随意交叉控制各个双向总线控制矩阵电路的工作流程切换并采集相关信号；

所述功能测试电路由所述ARM高速处理器控制执行去完成多个信号的测试；

所述高速通信扩展矩阵模拟切换电路用于外部扩展测试通道，使用专用高速信号通信芯片快速多点位指定通道口完成供电和测试流程。