[发明专利]一种故障码存储的测试方法、装置、设备和存储介质

权利要求书

1.一种故障码存储的测试方法，其特征在于，包括：

针对预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，所述故障映射库中记录有所述待测电控单元的每一故障识别变量与标准故障码之间的映射关系；

通过比对每一故障识别变量对应的测试故障码和标准故障码，确定所述待测电控单元的故障码存储性能。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测电控单元上维护有故障码列表，用于存储所述待测电控单元基于所述故障映射库中记录的每一故障识别变量确定的测试故障码。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码之前，还包括：

遍历所述故障映射库中记录的故障识别变量，并向所述待测电控单元发送当前遍历的故障识别变量，以使所述待测电控单元在所述故障码列表中存储基于该故障识别变量确定的测试故障码。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在向所述待测电控单元发送当前遍历的故障识别变量之前，还包括：

向所述待测电控单元发送对应的故障码清除请求，以使所述待测电控单元清除所述故障码列表中已存储的测试故障码；

相应的，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，包括：

读取所述待测电控单元上所述故障码列表中现有的测试故障码。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述待测电控单元上配置有故障识别接口，用于识别当前遍历的故障识别变量。

6.根据权利要求1-5任一项所述的方法，其特征在于，所述读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，包括：

根据所述待测电控单元面向故障识别变量的预设存储时长，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码。

7.一种故障码存储的测试装置，其特征在于，包括：

故障码读取模块，用于针对预先构建的故障映射库中记录的每一故障识别变量，读取待测电控单元基于该故障识别变量存储的测试故障码，所述故障映射库中记录有所述待测电控单元的每一故障识别变量与标准故障码之间的映射关系；

存储性能测试模块，用于通过比对每一故障识别变量对应的测试故障码和标准故障码，确定所述待测电控单元的故障码存储性能。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述待测电控单元上维护有故障码列表，用于存储所述待测电控单元基于所述故障映射库中记录的每一故障识别变量确定的测试故障码。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-6中任一所述的故障码存储的测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一所述的故障码存储的测试方法。