[发明专利]输入/输出电路内部环回

说明书

本发明题为“输入/输出电路内部环回”。本发明公开了用于半导体管芯以及半导体管芯的控制操作的技术。在一些方面，半导体管芯被配置为测试所述半导体管芯上的I/O电路。半导体管芯具有输入电路，输入电路将第一输入或第二输入中的一者处的电压信号与第一输入或第二输入中的另一者处的参考电压进行比较以生成输入电压信号。第一输入可连接到I/O触点。在正常模式期间，管芯上的控制电路向第二输入提供参考电压。在测试模式期间，控制电路在内部将测试信号从输出电路环回到输入电路的第二输入。因此，测试信号避免了I/O触点。

背景技术

半导体管芯通常具有输入/输出(I/O)电路以允许数据输入和数据输出。输入/输出电路可提供其它功能，诸如允许将控制信号提供给半导体管芯。通常，半导体管芯具有某种类型的I/O触点，这些I/O触点向半导体管芯提供电接口以允许数据、控制信号等的输入/输出。I/O触点可包括例如半导体管芯的表面上的接触焊盘。根据语境，I/O触点可包括其它导电元件。例如，可将半导体管芯放置到封装件中，该封装件具有电连接到接触焊盘的接触引脚。

作为一个示例，半导体管芯可包含存储器和I/O电路，该I/O电路能够经由I/O触点访问以允许将数据存储到存储器中并从存储器中检索数据。半导体存储器可以包括非易失性存储器或易失性存储器。即使当非易失性存储器未连接至电源(例如，电池)时，非易失性存储器也允许存储和保留信息。此类半导体管芯广泛用于各种电子设备，诸如蜂窝电话、数码相机、个人数字助理、医疗电子器件、移动计算设备、服务器、固态驱动器、非移动计算设备和其它设备。

附图说明

类似编号的元件是指不同的图中的共同部件。

图1是存储器设备的一个实施方案的功能框图。

图2是描绘存储器系统的一个实施方案的框图。

图3描绘了半导体管芯的一个实施方案。

图4描绘了存储器管芯的一个实施方案。

图5描绘了连接到I/O触点的输入/输出电路的一部分的一个实施方案。

图6A描绘了图5的输入/输出电路，其中开关逻辑件处于可在正常操作模式期间使用的位置。

图6B描绘了图5的输入/输出电路，其中开关逻辑件处于可在测试操作模式期间使用的位置。

图7描绘了以两种模式操作数据输入电路的过程的一个实施方案的流程图。

图8描绘了在测试模式期间控制半导体管芯的过程的一个实施方案的流程图。

图9描绘了在正常模式下控制存储器管芯的过程的一个实施方案的流程图。

图10是数据输出电路的一部分的一个实施方案的示意图。

图11是数据输入电路的一部分的一个实施方案的示意图。

具体实施方式

本发明公开了用于半导体管芯以及半导体管芯的控制操作的技术。一些实施方案包括半导体管芯，该半导体管芯被配置为测试半导体管芯上的I/O电路。在一个实施方案中，半导体管芯具有与第一I/O触点相关联的输入电路和与第二I/O触点相关联的输出电路。输入电路可具有第一输入和第二输入。输入电路可被配置为将第一输入或第二输入中的一者处的电压信号与第一输入或第二输入中的另一者处的参考电压进行比较以生成输入电压信号。本文中，“电压信号”是指在两种状态之间(例如，在两种电压之间)来回切换的电压。相比之下，参考电压不在两种状态之间来回切换。比较的结果在本文中被称为输入电压信号。