[发明专利]一种应用于空间碎片广域探测的光学系统有效

专利信息
申请号: 202010559085.2 申请日: 2020-06-18
公开(公告)号: CN111812827B 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 庞志海;贺天兵;雷广智;张健 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G02B13/18 分类号: G02B13/18;G02B1/00;G01N21/84;G01N21/01
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 唐沛
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 应用于 空间 碎片 广域 探测 光学系统
【说明书】:

发明公开了一种应用于空间碎片广域探测的光学系统。该系统包括沿光传播方向依次设置在同一光轴上的第一负透镜、第一正透镜、第二负透镜、孔径光阑、第二正透镜、第三正透镜、第三负透镜、第四负透镜和探测器;该系统其性能指标优良,不仅入瞳直径可达100mm以上,光谱范围450nm‑850nm,并且能够在28°*28°视场范围满足空间目标广域探测的使用要求。

技术领域

本发明属于空间光学系统技术领域,具体涉及一种应用于空间碎片广域探测的光学系统。

背景技术

空间碎片是指环绕地球并在空间按照一定轨道运行的物体,如助推器、保护罩、卫星碎片、失效卫星等。空间碎片严重的威胁着在轨运行航天器的安全,它们和航天器的碰撞直接改变卫星表面性能,造成航天器表面损伤,导致航天器系统故障,对航天器的在轨常运行带来极大危害。同时近年来,人类的空间活动越来越频繁,空间碎片的数量越来越多,使得空间环境日益恶化。大视场空间碎片广域探测技术可以对空间碎片进行搜索、发现,为空间碎片规避和空间安全提供信息基础,保证航天器在轨运行安全。

大视场空间碎片广域探测系统不同于一般的光学系统,其光学设计要求主要有以下几个方面:

(1)光学系统孔径大;孔径大小直接关系到系统的探测能力,孔径越大,探测能力越强,弱小目标可以被探测;

(2)光学系统视场大;视场越大,系统的时效性越强,短时间内即可完成目标区域内的碎片探测;

(3)视场内弥散斑直径与探测器2*2或3*3像元接近;

(4)各个视场弥散斑大小分布均匀;

(5)系统光谱范围较宽,光谱宽度大于等于400nm;

由于光学系统视场、孔径、光谱范围增大直接影响光学系统的球差、慧差、畸变、场曲和垂轴色差,极大的增加了系统的设计难度。现有的光学系统存在视场大的入瞳直径较小,系统探测能力有限,反之入瞳直径大的视场角较小,系统时效性较低,同时光谱范围较窄,均无法不能满足大视场空间目标广域探测的需求。

发明内容

为了解决背景技术中现有光学系统存在的视场大而入瞳直径较小,或者入瞳直径大而视场角较小,并且光谱范围较窄的技术问题,本发明目的提供了一种应用于空间碎片广域探测的光学系统,其性能指标优良,入瞳直径可达100mm以上,光谱范围450nm-850nm,能够在28°*28°视场范围满足空间目标广域探测的使用要求。

本发明解决上述技术问题采取的技术方案如下:

本发明提供了一种应用于空间碎片广域探测的光学系统,包括沿光传播方向依次设置在同一光轴上的第一负透镜、第一正透镜、第二负透镜、孔径光阑、第二正透镜、第三正透镜、第三负透镜、第四负透镜和探测器;

第二负透镜、第三负透镜的前表面均为高次非球面;

第一负透镜前、后表面的曲率半径分别为:115.5mm~119.2mm和89.4mm~93mm,厚度为15mm~19mm;

第一正透镜的材料折射率为1.422~1.555,第一正透镜前、后表面的曲率半径分别为:89.5mm~93.4mm和345mm~348.3mm,厚度为27mm~31mm;第一正透镜前表面与第一负透镜后表面的距离为3mm~4.5mm;

第二负透镜的材料折射率为1.65~1.72,第二负透镜前、后表面的曲率半径分别为:-284.65mm~-286.3mm和391.88mm~392.45mm,厚度为9.8mm~11mm;第二负透镜前表面与第一正透镜后表面的距离为22.4mm~23.8mm;

孔径光阑与第二负透镜后表面的距离为21.4mm~22.85mm;

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