[发明专利]瓦楞纸厚度检测方法、瓦楞纸生产品质监控系统有效
申请号: | 202010559654.3 | 申请日: | 2020-06-18 |
公开(公告)号: | CN111649681B | 公开(公告)日: | 2021-01-15 |
发明(设计)人: | 邱祉海;关飞;蔡旭初;陈兆海 | 申请(专利权)人: | 杭州利鹏科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/06 | 分类号: | G01B11/06 |
代理公司: | 浙江专橙律师事务所 33313 | 代理人: | 朱孔妙 |
地址: | 310018 浙江省杭州市经济技术开发*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 瓦楞纸 厚度 检测 方法 生产 品质 监控 系统 | ||
1.瓦楞纸厚度检测方法,其特征在于:基于硬件系统,硬件系统包括工作台(T)、前景板(S1)、背景板(S2)、摄像头(SXQ)、电脑;
前景板(S1)固定安装在工作台(T)台面的右端;
背景板(S2)固定安装在 工作台(T)台面的左端;
摄像头(SXQ)固定安装在工作台(T)的右侧,并位于工作台(T)台面的上方,在水平方向上摄像头(SXQ)具有有限的拍摄范围,摄像头(SXQ)拍摄范围的上边界为拍摄上限(SXQ-SX),摄像头(SXQ)拍摄范围的下边界为拍摄下限(SXQ-XX);
电脑与摄像头(SXQ)通讯连接;
前景板(S1)的上端平面所在的水平线处于摄像头(SXQ)拍摄上限(SXQ-SX)和拍摄下限(SXQ-XX)之间,前景板(S1)的下端平面所在的水平线低于拍摄下限(SXQ-XX),背景板(S2)的上端平面所在的水平线高于拍摄上限(SXQ-SX),背景板(S2)的下端平面所在的水平线低于拍摄下限(SXQ-XX);
基于待检目标,放置在前景板(S1)和背景板(S2)之间的瓦楞纸样品(YP);
摄像头(SXQ)所拍摄到的瓦楞纸样品(YP)颜色称之为瓦楞纸样品颜色(S-YP),摄像头(SXQ)所拍摄到的前景板(S1)的颜色为前景板颜色(S-S1),摄像头(SXQ)所拍摄到的背景板(S2)的颜色为背景板颜色(S-S2),摄像头(SXQ)所拍摄到的图像中前景板颜色(S-S1)和背景板颜色(S-S2)之间分界线称之为边界线(S-BJ);
具体流程如下:
流程a:先将瓦楞纸样品(YP)放置在工作台(T)台面上;
流程b:摄像头(SXQ)开始采集图像,并将采集到的图像传至电脑上,电脑判断采集到的图像是否包括瓦楞纸样品颜色(S-YP),若摄像头(SXQ)拍摄到的图像只包括前景板颜色(S-S1)和背景板颜色(S-S2),则瓦楞纸样品(YP)的厚度低于前景板(S1)的高度,该流程检测不合格;若摄像头(SXQ)拍摄到的图像包括前景板颜色(S-S1)、瓦楞纸样品颜色(S-YP)和背景板颜色(S-S2),则瓦楞纸样品(YP)的厚度高于前景板(S1)的高度,该流程检测合格。
2.根据权利要求1所述的瓦楞纸厚度检测方法,其特征在于:电脑还可通过判断边界线(S-BJ)是否完整,来判断瓦楞纸样品(YP)厚度是否合格。
3.根据权利要求1所述的瓦楞纸厚度检测方法,其特征在于:电脑里设有预设值,预设值为瓦楞纸样品(YP)生产所需的厚度值,电脑还可通过判断生产后瓦楞纸样品(YP)的边界占比是否大于预设值,来判断瓦楞纸样品(YP)厚度是否合格。
4.根据权利要求1所述的瓦楞纸厚度检测方法,其特征在于:所述摄像头(SXQ)为水平安装。
5.根据权利要求1所述的瓦楞纸厚度检测方法,其特征在于:所述前景板颜色(S-S1)的波长范围和背景板颜色(S-S2)的波长范围相差较大,前景板颜色(S-S1)和背景板颜色(S-S2)有明显区别。
6.根据权利要求1所述的瓦楞纸厚度检测方法,其特征在于:电脑具有显示器,摄像头拍摄到的图像显示在显示器上。
7.瓦楞纸生产品质监控系统,其特征在于:采用权利要求1所述的瓦楞纸厚度检测方法,对瓦楞纸进行检测。
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