[发明专利]RFID标签测试用支架和RFID标签测试系统

说明书

RFID标签测试用支架和RFID标签测试系统。RFID标签测试用支架包括支架杆体，所述支架杆体包括固定杆段；所述固定杆段具有夹合结构、锁紧结构和标签插接转动结构；所述夹合结构能够夹紧所述标签插接转动结构，从而能够固定所述标签插接转动结构的角度；所述标签插接转动结构插接标签载体；所述标签载体用于承载RFID标签；还包括设置在所述支架杆体的量角器和角度指示结构；所述角度指示结构连接在所述固定杆段侧面；所述量角器被所述支架杆体贯穿并以水平方式垂直于所述支架杆体。RFID标签测试用支架能够调节高度和角度。

技术领域

本发明涉及射频识别领域，尤其涉及一种RFID标签测试用支架和RFID 标签测试系统。

背景技术

射频识别(RFID)是一种利用射频信号自动识别目标对象并获取相关数据的非接触式自动识别技术。它广泛的应用于，固定资产的盘点，产品进出库的管理，产品的溯源等等领域。其中，超高频RFID是指工作频率在 840-960MHZ之间的射频识别，通过电磁反向散射耦合的工作原理进行能量与数据传输。超高频RFID具有读取距离较远，信息传输速率较快，制造成本低等优点，但也有对环境影响敏感，容易受到干扰的特性。

天线方向图是指在离天线一定距离处，辐射场的相对场强(归一化模值) 随方向变化的图形，是对天线辐射特性的图形描述方法，可以从天线方向图中观察到天线的各项参数。通常采用通过天线最大辐射方向上的两个相互垂直的平面方向图来表示。天线方向图用于表示天线在不同方向具有不同的辐射特性的图谱，即天线方向图用于表征天线辐射特性(场强振幅、相位、极化) 与空间角度关系。完整的方向图是一个三维的空间图形。它是以天线相位中心为球心(坐标原点)，在半径r足够大的球面上，逐点测定其辐射特性绘制而成。测量场强振幅，就得到场强方向图；测量功率，就得到功率方向图；测量极化，就得到极化方向图；测量相位，就得到相位方向图。实际工作中，一般只需测得水平面和垂直面(即XY平面和XZ平面)的方向图就行了。分析天线的天线方向图对RFID通信系统的稳定性、可靠性非常重要。

现有测试天线方向图的方法包括实验室暗箱测试方法和泡沫框架测试方法。实验室暗箱测试方法利用专门的实验室专业设备，功能强大，测试数据精准。但是，存在设备体积庞大，费用昂贵，并且因为体积有限无法测试户外或者体积较大的标签等不足，另外，现有设备中，通常标签只能水平或者竖直放在托盘上，无法多角度的测量。泡沫框架测试方法利用的是便携式设备泡沫框架等，一定程度上方便测量标签参数，但是此方案中天线是放在水平桌面上的，测试的距离与角度都有限。另外，现有设备的三维方向图多是通过模拟，或特殊点采集的有限数据，计算出来的，这样的三维方向图就会与实际的有所偏差。

发明内容

本发明解决的问题是提供一种RFID标签测试用支架和RFID标签测试系统，以实现能够更加灵活、方便、快捷和全面地对RFID标签进行测试。

为解决上述问题，本发明提供一种RFID标签测试用支架，包括支架杆体，所述支架杆体包括固定杆段；所述固定杆段具有夹合结构、锁紧结构和标签插接转动结构；所述夹合结构能够夹紧所述标签插接转动结构，从而能够固定所述标签插接转动结构的角度；所述标签插接转动结构插接标签载体；所述标签载体用于承载RFID标签；还包括设置在所述支架杆体的量角器和角度指示结构；所述角度指示结构连接在所述固定杆段侧面；所述量角器被所述支架杆体贯穿并以水平方式垂直于所述支架杆体。

可选的，所述支架杆体还包括伸缩杆段、支撑杆段和底座，所述伸缩杆段位于所述固定杆段和所述支撑杆段之间，所述底座位于所述支撑杆段下端。

可选的，所述固定杆段周侧设置有蜗轮，所述蜗轮啮合蜗杆，所述蜗杆连接步进马达。

可选的，所述夹合结构包括两个分开的半部结构，每个所述半部结构包括带螺纹的半圆柱体和连接在所述半圆柱体上的夹合叶，两个所述半圆柱体相对设置，两个所述夹合叶对称，所述标签插接转动位于两个所述夹合叶之间且位于两个所述半圆柱体上。