[发明专利]位移测量方法、装置、测斜仪和计算机存储介质

权利要求书

1.一种位移测量方法，其特征在于，包括：

针对测斜管多个测量位置中的每个测量位置，获取测斜仪上倾角传感器和磁阻传感器分别沿第一方向和第二方向进行测量时，得到的两个倾角数据和两个方向角数据；其中，第一方向和第二方向为测斜管内径上两组卡槽所对应的方向，第一方向与第二方向垂直；根据得到的两个倾角数据，确定相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中的倾斜长度；并根据得到的两个倾角数据和两个方向角数据，确定相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中的方向角；其中，所述第一坐标系包含第一方向的水平投影方向和第二方向的水平投影方向的三维坐标系；

根据每段测斜管对应的倾斜长度和方向角，确定测斜管的位移值。

2.根据权利要求1所述的位移测量方法，其特征在于，所述根据得到的两个倾角数据，确定相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中的倾斜长度，包括：

根据得到的两个倾角数据，确定测斜仪对应的第一基准长度在第一坐标系中第一方向对应的第一倾斜长度和第二方向对应的第二倾斜长度；

根据所述第一倾斜长度和第二倾斜长度，确定所述相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中的倾斜长度。

3.根据权利要求1所述的位移测量方法，其特征在于，所述根据得到的两个倾角数据和两个方向角数据，确定相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中的方向角，包括：

根据得到的两个倾角数据确定相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中相对于第一方向所在垂直平面或第二方向所在垂直平面的偏移角度；

根据所述偏移角度和所述两个方向角数据，确定相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中的方向角。

4.根据权利要求3所述的位移测量方法，其特征在于，所述根据得到的两个倾角数据确定相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中相对于第一方向所在垂直平面或第二方向所在垂直平面的偏移角度，包括：

根据得到的两个倾角数据，确定测斜仪对应的第一基准长度在第一坐标系中第一方向的水平投影方向对应的第一投影长度和第二方向的水平投影方向对应的第二投影长度；

根据第一投影长度和第二投影长度，确定所述相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中相对于第一平面的偏移角度；所述第一平面为第一方向所在垂直平面或第二方向所在垂直平面。

5.根据权利要求3所述的位移测量方法，其特征在于，所述根据所述偏移角度和所述两个方向角数据，确定相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中的方向角，包括：

根据所述偏移角度与所述两个方向角中的一个，得到相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中的方向角。

6.根据权利要求1所述的位移测量方法，其特征在于，所述根据每段测斜管对应的倾斜长度和方向角，确定测斜管的位移值，包括：

根据每段测斜管对应的倾斜长度和方向角，确定测斜管的位移曲线；

根据测斜管的位移曲线，确定测斜管的位移值。

7.根据权利要求6所述的位移测量方法，其特征在于，所述根据测斜管的位移曲线，确定测斜管的位移值，包括：

将测斜管的位移曲线沿设定方向进行投影，获得测斜管的位移值。

8.一种位移测量装置，其特征在于，包括：

第一测量模块，用于针对测斜管多个测量位置中的每个测量位置，获取测斜仪上倾角传感器和磁阻传感器分别沿第一方向和第二方向进行测量时，得到的两个倾角数据和两个方向角数据；其中，第一方向和第二方向为测斜管内径上两组卡槽所对应的方向，第一方向与第二方向垂直；根据得到的两个倾角数据，确定相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中的倾斜长度；并根据得到的两个倾角数据和两个方向角数据，确定相应测量位置对应的一段测斜管在第一坐标系中的方向角；其中，所述第一坐标系包含第一方向的水平投影方向和第二方向的水平投影方向的三维坐标系；

第二测量模块，用于根据每段测斜管对应的倾斜长度和方向角，确定测斜管的位移值。