[发明专利]芯片启动控制方法、芯片、显示面板及电子设备

说明书

本公开涉及一种芯片启动控制方法、芯片、显示面板及电子设备。所述方法应用于芯片的控制模块，芯片还包括缓存模块，方法包括：在芯片触发不掉电复位的情况下，从缓存模块中读取第一启动信息，其中，第一启动信息用于启动芯片；判断第一启动信息是否满足第一预设条件；在第一启动信息满足第一预设条件的情况下，根据第一启动信息启动芯片。通过上述方法省去了将用于芯片启动的代码重新加载到缓存模块的时间，节省了芯片启动时间。

技术领域

本公开涉及芯片技术领域，尤其涉及一种芯片启动控制方法、芯片、显示面板及电子设备。

背景技术

随着芯片技术的不断发展，在社会生活的各个领域中，尤其是在通信领域中，各种专业芯片的应用越来越广，其功能也越来越强大。在对芯片进行应用时，为使芯片正常工作，首先要对芯片进行初始化，其中，初始化过程可以包括：对芯片的程序进行加载以及对芯片中的参数进行配置等。

通常，芯片启动时需要配置一系列参数，以保证芯片能够正常运行。现有的芯片启动流程如下：芯片上电启动或芯片复位完成后，将闪存中保存的固件加载到静态随机存取存储器SRAM(Static Random Access Memory)中，若没有闪存，则从外部控制单元中加载固件。

但是若芯片不发生掉电复位，例如，通过芯片复位引脚或者触发看门狗复位，现有的芯片启动流程依旧会将闪存中保存的固件加载到静态随机存取存储器SRAM中，导致芯片启动时间较长。

发明内容

有鉴于此，本公开提出了一种芯片启动控制方法，所述方法应用于所述芯片的控制模块，所述芯片还包括缓存模块，所述方法包括：

在所述芯片触发不掉电复位的情况下，从所述缓存模块中读取第一启动信息，其中，所述第一启动信息用于启动所述芯片；

判断所述第一启动信息是否满足第一预设条件；

在所述第一启动信息满足所述第一预设条件的情况下，根据所述第一启动信息启动所述芯片。

在一种可能的实现方式中，所述判断所述第一启动信息是否满足第一预设条件，包括：

判断所述第一启动信息是否具有使能标志；

在所述第一启动信息具有使能标志的情况下，判断所述第一启动信息的长度是否大于预设阈值；

在所述第一启动信息的长度大于预设阈值的情况下，确定所述第一启动信息对应的校验结果；

判断所述校验结果与所述缓存模块中的预存校验码是否相同；

在所述校验结果与所述缓存模块中的预存校验码相同的情况下，确定所述第一启动信息满足所述第一预设条件。

在一种可能的实现方式中，所述确定所述第一启动信息对应的校验结果，包括：

根据所述第一启动信息，通过循环冗余校验算法或奇偶检验算法确定所述第一启动信息对应的校验结果。

在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：

在所述第一启动信息不满足所述第一预设条件的情况下，将用于芯片启动的第二启动信息加载到所述缓存模块中。

在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：

在所述芯片启动后，根据第二预设条件更改或擦除存储在所述缓存模块中的预存校验码。

根据本公开的另一方面，提供了一种芯片，所述芯片包括控制模块和缓存模块，其中：

所述控制模块，用于在所述芯片触发不掉电复位的情况下，从所述缓存模块中读取第一启动信息，其中，所述第一启动信息用于启动所述芯片；

判断所述第一启动信息是否满足第一预设条件；