[发明专利]用于生成校正的传感器数据的系统和方法在审
申请号: | 202010571919.1 | 申请日: | 2020-06-22 |
公开(公告)号: | CN112346603A | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | N.V.富托普洛斯;K.古达兹;T.S.达塔罗;J.K.雷诺;J.罗什;R.V.舍诺伊;D.索尔文 | 申请(专利权)人: | 辛纳普蒂克斯公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044;G06F3/041 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 李湘;陈岚 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 生成 校正 传感器 数据 系统 方法 | ||
1.一种用于电容性感测的方法,包括:
通过在一个或多个跨电容性感测块期间操作用于跨电容性感测信号的多个传感器电极来从所述多个传感器电极获取第一电容性传感器数据
通过在第一一个或多个绝对电容性感测块期间操作用于绝对电容性感测的所述传感器电极来从所述多个传感器电极获取第二电容性传感器数据;以及
基于所述第一电容性传感器数据和所述第二电容性传感器数据确定对于一个或多个输入对象的位置信息。
2.根据权利要求1所述的方法,其中通过在所述第一一个或多个绝对电容性感测块期间操作用于绝对电容性感测的所述传感器电极来获取所述第二电容性传感器数据包括:
在第一绝对电容性感测块期间从所述多个传感器电极中的第一传感器电极获取第一绝对电容性传感器数据,其中所述第一绝对电容性感测块在所述一个或多个跨电容性感测块之前发生;以及
在第二绝对电容性感测块期间从所述多个传感器电极中的第二传感器电极获取第二绝对电容性传感器数据,并且其中所述第二绝对电容性感测块在所述一个或多个跨电容性感测块之后。
3.根据权利要求2所述的方法,其中确定对于所述一个或多个输入对象的所述位置信息包括:
将所述第一绝对电容性传感器数据与所述第二绝对电容性传感器数据进行比较;以及
基于第一绝对电容性传感器数据和所述第二绝对电容性传感器数据之间的差来调整所述第一电容性传感器数据。
4.根据权利要求1所述的方法,还包括:
通过在第二一个或多个绝对电容性感测块期间操作用于绝对电容性感测的所述多个传感器电极来从所述多个传感器电极获取第三电容性传感器数据,其中所述第一一个或多个绝对电容性感测块在所述一个或多个跨电容性感测块之前发生,以及所述第二一个或多个绝对电容性感测块在所述一个或多个跨电容性感测块之后发生;以及
将所述第二电容性传感器数据与所述第三电容性传感器数据进行比较;以及
其中确定对于所述一个或多个输入对象的所述位置信息还基于所述第二电容性传感器数据与所述第三电容性传感器数据的所述比较。
5.根据权利要求4所述的方法,其中:
获取所述第二电容性传感器数据包括:
在第一绝对电容性感测块期间从所述多个传感器电极中的第一传感器电极获取第一绝对电容性传感器数据;以及
在第二绝对电容性感测块期间从所述多个传感器电极中的第二传感器电极获取第二绝对电容性传感器数据,其中所述第一和第二绝对电容性感测块在所述一个或多个跨电容性感测块之前发生;
获取所述第三电容性传感器数据包括:
在第三绝对电容性感测块期间从所述第一传感器电极获取第三绝对电容性传感器数据;
在第四绝对电容性感测块期间从所述第二传感器电极获取第四绝对电容性传感器数据,并且其中所述第三和第四绝对电容性感测块在所述一个或多个跨电容性感测块之后发生;以及
将所述第二电容性传感器数据与所述第三电容性传感器数据进行比较包括:
将所述第一绝对电容性传感器数据与所述第三绝对电容性传感器数据进行比较;以及
将所述第二绝对电容性传感器数据与所述第四绝对电容性传感器数据进行比较以生成更新的绝对电容性传感器数据。
6.根据权利要求1所述的方法,其中获取所述第二电容性传感器数据包括:
在第一绝对电容性感测块期间从所述多个传感器电极中的第一传感器电极获取第一绝对电容性传感器数据;以及
在第二绝对电容性感测块期间从所述多个传感器电极中的第二传感器电极获取第二绝对电容性传感器数据,其中所述第一和第二绝对电容性感测块在所述一个或多个跨电容性感测块之前发生,并且其中确定对于所述一个或多个输入对象的所述位置信息包括:
基于所述第一绝对电容性传感器数据和所述第二绝对电容性传感器数据中的至少一个来检测所述第一电容性传感器数据中的一个或多个伪像;以及
响应于检测到所述一个或多个伪像而调整所述第一电容性传感器数据。
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