[发明专利]过流保护方法、装置和电子设备

权利要求书

1.一种过流保护方法，包括：

获得电子设备的采样周期及与所述采样周期对应的采样方式；

至少基于所述采样周期和与所述采样周期对应的采样方式确定采样时刻，在确定的采样时刻获得电源输出的电流值；

根据所述采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作；

其中，所述采样方式为所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同；

其中，所述至少基于所述采样周期和与所述采样周期对应的采样方式确定采样时刻，包括：

确定所述采样周期的数值类型，至少基于所述采样周期的数值类型确定对应的采样方式，根据确定的采样方式从所述采样周期中确定采样时刻；

或，

确定所述采样周期的数值，根据所述数值所属的数值范围从预定采样时刻集合中确定与所述采样周期对应的采样时刻。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，确定所述采样周期的数值类型，至少基于所述采样周期的数值类型确定对应的采样方式，根据确定的采样方式从所述采样周期中确定采样时刻，包括：

在确定所述采样周期为质数的情况下，按照第一采样方式将所述采样周期中数值为质数的第一时刻确定为所述采样时刻；且/或，

在确定所述采样周期为合数的情况下，按照第二采样方式将所述采样周期中数值为合数的第二时刻确定为所述采样时刻；

或，

在确定所述采样周期为质数或合数的情况下，按照第三采样方式将所述时间间隔为质数或合数时对应的第三时刻确定为所述采样时刻。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，确定所述采样周期的数值，根据所述数值所属的数值范围从预定采样时刻集合中确定与所述采样周期对应的采样时刻，包括：

在确定所述采样周期的数值处于第一数值范围内的情况下，将所述预定采样时刻集合中的第一采样时刻集合内各采样时刻确定为与所述采样周期对应的采样时刻；和/或，

在确定所述采样周期的数值处于第二数值范围内的情况下，将所述预定采样时刻集合中的第二采样时刻集合内各采样时刻确定为与所述采样周期对应的采样时刻；

其中，采样时刻集合中采样时刻的个数与所述采样周期的数值所处的数值范围具有第一对应关系。

4.根据权利要求1所述的方法，所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔不完全相同，包括：

所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔均不相同；

或者，所述采样周期内相同时长的时间间隔的占比小于第一阈值，所述时间间隔为相邻两采样时刻之间的时长间隔。

5.根据权利要求1至4任一项所述的方法，其中，所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔按照确定的第四采样方式增大或减小；且/或，

所述采样周期内相邻两采样时刻的时间间隔与显卡的电流输出频率具有第二对应关系。

6.根据权利要求1所述的方法，所述根据所述采样周期内各采样时刻获得的电流值是否满足过流保护条件，执行或不执行过流保护操作，包括：

在所述采样周期内各采样时刻的电流值均达到电流阈值的情况下，执行过流保护操作；或，

在所述采样周期内达到电流阈值的采样时刻的个数大于第二阈值的情况下，执行过流保护操作。

7.根据权利要求1所述的方法，所述电子设备的采样周期基于所述电子设备的处理器的处理任务量和/或处理能力确定。