[发明专利]星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法及系统有效
| 申请号： | 202010574625.4 | 申请日： | 2020-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN112556852B | 公开（公告）日： | 2022-03-04 |
| 发明（设计）人： | 李一楠;杨小娇;党鹏举;宋广南;王佳坤;李浩;吕容川 | 申请（专利权）人： | 西安空间无线电技术研究所 |
| 主分类号： | G01J5/90 | 分类号： | G01J5/90 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 程何 |
| 地址： | 710100 陕*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 星载大 口径 微波 辐射计 反射 面亮温 贡献 校正 方法 系统 | ||
1.星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法，其特征在于，包括如下步骤：
在卫星地面测试阶段，获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图；
卫星入轨工作后，根据地面测试获得的反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正，校正后的反射面辐射效率亮温贡献为
其中，TA为馈源观测得到的视在亮温，为天线反射面的温度场分布，方向图以及空间立体角Ω，反射面的辐射效率η。
2.根据权利要求1所述的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法，其特征在于，所述获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图的方法包括：在地面暗室，对馈源的方向图进行测量，获得方向图以及空间立体角Ω。
3.根据权利要求1所述的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法，其特征在于，所述获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图的方法包括：在地面暗室，对天线反射面辐射效率进行测量，获得反射面的辐射效率η。
4.根据权利要求1所述的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正方法，其特征在于，所述对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正包括如下步骤：
通过温度传感器获取天线反射面的温度场分布；
根据天线反射面的温度场分布，以及反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正。
5.星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正系统，其特征在于，包括：
第一模块，在卫星地面测试阶段，获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率以及馈源的方向图；
第二模块，卫星入轨工作后，根据地面测试获得的反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正，校正后的反射面辐射效率亮温贡献为
其中，TA为馈源观测得到的视在亮温，为天线反射面的温度场分布，方向图以及空间立体角Ω，反射面的辐射效率η。
6.根据权利要求5所述的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正系统，其特征在于，所述获取星载微波辐射计反射面天线的馈源的方向图，具体的方法包括：在地面暗室，对馈源的方向图进行测量，获得方向图以及空间立体角Ω。
7.根据权利要求5所述的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正系统，其特征在于，所述获取星载微波辐射计反射面天线的反射面辐射效率，具体的方法包括：在地面暗室，对天线反射面辐射效率进行测量，获得反射面的辐射效率η。
8.根据权利要求5所述的星载大口径微波辐射计反射面亮温贡献校正系统，其特征在于，所述对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正，具体包括如下步骤：
通过温度传感器获取天线反射面的温度场分布；
根据天线反射面的温度场分布，以及反射面辐射效率以及馈源的方向图对在轨反射面辐射效率亮温贡献进行校正。
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