[发明专利]一种基于误差相似性的测量误差补偿方法有效

专利信息
申请号: 202010577749.8 申请日: 2020-06-23
公开(公告)号: CN111693084B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 黄翔;李泷杲;曾琪;李根;楼佩煌;钱晓明;陶克梅 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00;G06F30/20
代理公司: 南京天华专利代理有限责任公司 32218 代理人: 瞿网兰
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 误差 相似性 测量误差 补偿 方法
【权利要求书】:

1.一种基于误差相似性的测量误差补偿方法,其特征在于首先,重复测量拟合得到采样点的理论值;其次,利用半变异函数拟合求解测量误差的空间相似性模型;最后,通过克里金法构建测量误差的空间插值模型,预估并补偿目标点的测量误差;具体步骤为:

1)重复测量采样点,通过椭球拟合算法计算其中心坐标;

2)基于采样点的理论值与测量误差,利用半变异函数拟合求解测量误差的空间相似性模型;

对于任一目标点pi,pi=[lsinαcosβ,lsinαsinβ,lcosα]T,测量误差表示为:

其中,X=[l,α,β]T是测量参数向量,l、α和β分别表示测量距离、俯仰角和水平角;是随机误差,是环境引起的测量误差;

小区域S内的所有目标点的测量参数向量相似,即X1~X2,同一时刻指向目标点的测量光线所穿透的环境无变化,此范围内目标点的测量误差也相似;因此,构造采样点测量误差的半方差为:

h=||pi-pj|| (3)

其中,N(h)是由距离h决定的采样点对数,是采样点测量误差的差值;

取h为不同数值,计算其所决定的采样点对的半方差Υk(h);通过常见的线性、球状、指数或高斯模型,最佳拟合采样点测量误差的半方差与距离的关系并绘制曲线;

其中,C0、C和a分别表示块金、拱高和变程;

3)基于采样点的理论值与测量误差,以及测量误差的空间相似性模型,利用克里金法构建测量误差的空间插值模型;

基于第2)步拟合求解的测量误差相似性模型,将空间任一目标点p的测量误差估计为采样点测量误差的线性加权,即:

令和测量误差的估算值与真值的差值为:

dk=ωkTΔPk-Δpk (9)

为保证Fk(p)为测量误差的无偏最优估计,dk必须满足:

因此,

构造测量误差估计的拉格朗日最小二乘方程:

将式(12)对ωk求导,并结合测量误差的协方差与半方差的关系,得到:

L′(ωk,λ)=Rkωk-rkkI (13)

其中,Rijk=Υk(||pi-pj||)、rik=Υk(||p-pi||)和I=[1 1 … 1]T,λk是拉格朗日乘子;

结合式(11),ωk可以通过式(14)解得;

4)预估计算目标点的测量误差并修正 补偿;

基于第3)步计算得到目标点的预估误差F(p),则其测量值可以修正为:

2.如权利要求1所述的测量误差补偿方法,其特征在于:所述误差补偿方法程序化实现并集成于测量控制软件后,可自动计算目标点的测量误差并加以补偿。

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