[发明专利]一种手表走时精度检测装置及检测方法在审
申请号: | 202010578372.8 | 申请日: | 2020-06-23 |
公开(公告)号: | CN113835327A | 公开(公告)日: | 2021-12-24 |
发明(设计)人: | 薛超君;齐莉;张明;张秀红 | 申请(专利权)人: | 天津海鸥表业集团有限公司 |
主分类号: | G04D7/00 | 分类号: | G04D7/00 |
代理公司: | 天津三元专利商标代理有限责任公司 12203 | 代理人: | 李曼 |
地址: | 300308 天津市自贸*** | 国省代码: | 天津;12 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 手表 走时 精度 检测 装置 方法 | ||
1.一种手表走时精度检测装置,其特征在于,包括机架(1)、托盘组件(4)和图像采集部件(7),机架(1)上设置方位调节部件(3),方位调节部件(3)端部设有固定台(2),托盘组件(4)固定在固定台(2)上,托盘组件(4)包括多个待测工位,托盘组件(4)与图像采集部件(7)相对设置,图像采集部件(7)与控制器连接,调节图像采集部件(7)与各待测工位的待测机芯(9)对准,并对待测机芯(9)的表盘拍照,以获取待测机芯(9)的检测时间数据,控制器同步获取标准时间数据,通过比较检测时间数据和标准时间数据以获得手表的走时误差。
2.根据权利要求1所述的手表走时精度检测装置,其特征在于,所述方位调节部件(3)包括旋转支撑轴(31)和转轴(32),旋转支撑轴(31)一端转动的固定在机架(1)的支撑臂(11)上,旋转支撑轴(31)的另一端与转轴(32)一端铰接,转轴(32)的另一端与固定台(2)连接,旋转支撑轴(31)的两端设有电机,以驱动旋转支撑轴(31)转动及驱动转轴(32)绕旋转支撑轴(31)做翻转动作。
3.根据权利要求1所述的手表走时精度检测装置,其特征在于,所述托盘组件(4)包括本体(41),本体(41)内设置隔板(42),隔板(42)将本体(41)分割成多个待测工位,各待测工位内设有用于固定待测机芯(9)的夹具(43),在夹具(43)一侧设置自动上弦器(44),待测机芯(9)的表把置于自动上弦器(44)内,使待测机芯(9)自动上弦。
4.根据权利要求3所述的手表走时精度检测装置,其特征在于,多个所述待测工位呈阵列分布,图像采集部件(7)固定在支撑架(6)上,图像采集部件(7)的数量在一个到与待测工位的数量之间的范围内取值,支撑架(6)的两端分别活动的固定在托盘组件(4)两侧的安装板(5)内,通过平移支撑架(6)使图像采集部件(7)与待测机芯(9)对准。
5.根据权利要求4所述的手表走时精度检测装置,其特征在于,所述图像采集部件(7)的数量与待测工位的数量一致,支撑架(6)的两端分别与两侧的安装板(5)相对固定,每个图像采集部件(7)与各待测工位一一对应。
6.根据权利要求4所述的手表走时精度检测装置,其特征在于,所述图像采集部件(7)的数量与待测工位的行数或列数一致,安装板(5)设置在待测工位列或行的两侧,安装板(5)上分别设置导向孔,支撑架(6)的两端分别插入两侧的导向孔内,支撑架(6)与平移部件相连。
7.根据权利要求4所述的手表走时精度检测装置,其特征在于,所述图像采集部件(7)的数量为一个,图像采集部件(7)的端部通过平移部件滑动的固定在支撑架(6)上,支撑架(6)的两端分别置于两侧安装板(5)的导向孔内,支撑架(6)与平移部件连接。
8.根据权利要求6或7所述的手表走时精度检测装置,其特征在于,所述平移部件为丝杠丝母传动结构、蜗轮蜗杆传动结构、皮带传动结构或伸缩杆。
9.根据权利要求1所述的手表走时精度检测装置,其特征在于,所述标准时间数据通过控制器获取原子钟或者卫星授时信号源的标准时间得到。
10.根据权利要求1所述的手表走时精度检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括恒温部件,恒温部件为恒温箱(8),恒温箱(8)外壁设置温度显示器(81),机架(1)置于恒温箱(8)内。
11.根据权利要求1所述的手表走时精度检测装置,其特征在于,所述检测装置还包括恒温部件,恒温部件为设置于固定台(2)内的恒温组件,恒温组件包括设置于固定台(2)内的加热丝和半导体制冷片。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津海鸥表业集团有限公司,未经天津海鸥表业集团有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202010578372.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:温度检测方法、温度检测装置及电子设备
- 下一篇:电路架构及其制作方法