[发明专利]一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置及用其测试的方法在审
| 申请号： | 202010579297.7 | 申请日： | 2020-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN111678652A | 公开（公告）日： | 2020-09-18 |
| 发明（设计）人： | 张伟健;夏泓玮;王航 | 申请（专利权）人： | 北京品驰医疗设备有限公司 |
| 主分类号： | G01M3/06 | 分类号： | G01M3/06;G01M13/005 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 史双元 |
| 地址： | 102200 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 密封圈 密封 性能 检漏 测试 装置 方法 | ||
1.一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置，包括密封圈配合插入物、外壳、顶盖、气体快插接头；
所述外壳包括上端部和下端部；所述上端部有一止口，用于放入所述顶盖；所述下端部有一安装孔，用于安装所述气体快插接头；
所述气体快插接头用于接入外部气源，所述外部气源能够输出可控气压的气体；
所述顶盖上有一通孔，用于将所述密封圈插入；
所述配合插入物，在对密封圈密封性能进行检测时，插入所述密封圈中。
2.根据权利要求1所述的一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置，其特征在于：所述顶盖与所述外壳间隙配合，并通过激光焊接密封。
3.根据权利要求2所述的一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置，其特征在于：所述顶盖的所述通孔的直径小于所述密封圈的暴露端直径，大于所述密封圈的插入端直径，所述密封圈插入所述通孔为间隙配合。
4.根据权利要求3所述的一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置，其特征在于：所述通孔的深度大于所述密封圈的工作面厚度。
5.根据权利要求4所述的一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置，其特征在于：所述密封圈配合插入物插入所述密封圈，使所述密封圈的工作面产生压缩，从而产生密封效果。
6.根据权利要求5所述的一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置，其特征在于：所述密封圈配合插入物为标准堵头或电极。
7.根据权利要求1所述的一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置，其特征在于：所述下端部的所述安装孔为螺纹孔。
8.根据权利要求1所述的一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置，其特征在于：所述外壳和顶盖的材质为不锈钢。
9.根据权利要求1所述的一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置，其特征在于：所述外壳外形为直径不超过40mm的圆柱形，内腔体积在15mL以下，能够承受至少2个标准大气压。
10.使用权利要求1-9任一项所述的一种密封圈密封性能粗检漏用测试装置进行测试的方法，其特征在于：
将所述密封圈插入所述顶盖的通孔中，在接缝处周围涂布密封用液态硅橡胶，使所述密封圈密封固定在所述顶盖上；
在所述密封圈中插入所述密封圈配合插入物，所述气体快插接头接入气管，充入干燥洁净的空气到一个大气压；
将所述测试装置头部斜向下45°角没入装有透明液体的透明容器中，控制所述密封圈顶部位于液面以下10cm-15cm；
观察所述密封圈和所述配合插入物接缝处是否有气泡生成。
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