[发明专利]数字通道的校准装置和方法

说明书

本申请涉及一种数字通道的校准装置和方法，其中，该校准装置包括：第一连接端、第二连接端、采样模块、开关模块以及校准控制模块；其中，第一连接端和第二连接端分别用于连接数字通道的两个端子，且第一连接端和第二连接端短接；采样模块的第一端与第一连接端子电性连接，第二端与开关模块电性连接；校准控制模块包括输出校准单元、测量校准单元和控制单元；开关模块分别与输出校准单元的输入端和输出端、测量校准单元的输出端、控制单元以及接地端电性连接。通过本申请，解决了相关技术中对数字通道的校准效率低的问题，实现了提高对数字通道的校准效率的技术效果。

技术领域

本申请实施例涉及测试电路技术领域，特别是涉及一种数字通道的校准装置和方法。

背景技术

集成电路(Integrated Circuit，简称为IC)；顾名思义，就是把一定数量的常用电子元件，如电阻、电容、晶体管等，以及这些元件之间的连线，通过半导体工艺集成在一起的具有特定功能的电路。随着集成电路行业的快速发展，集成电路的工作速度不断提高，因此，对集成电路测试系统的测量准确度和输出准确度都提出了更高的要求。

集成电路测试系统包括多个数字通道，其中，单个数字通道由驱动器、比较器、可调节负载、参数测量单元注册。集成电路测试系统接口板或者加载版将部分或全部数字通道分别独立引出，在接口板上表现为独立的焊盘阵列结构。因此，集成电路测试系统中的数字通道的输出以及测量是否存在误差也影响着集成电路测试系统的可靠度以及准确度。

目前，相关技术中的数字通道的校准往往是通过万用表进行，例如：在对数字通道进行输出校准的情况下，控制数字通道输出电压，使用万用表测量数字通道的输出接口，并将测得的值和预设的值进行比较和校准；然后改变数字通道输出电压，并重复上述过程；在对数字通道进行测量校准的情况下，短接2个数字通道，控制其中一个通道为输出，另一个通道为输入，并将测得的输入值与预设的输出值进行比较和校准。因此，这类技术方案往往需要手动对数字通道以及万用表进行连线，切换对数字通道进行校准模式时需要手动改变连线，存在对数字通道的校准效率低、速度慢的技术缺陷。

目前针对相关技术中对数字通道的校准效率低的问题，尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种数字通道的校准装置和方法，以至少解决相关技术中对数字通道的校准效率低的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种数字通道的校准装置，所述校准装置包括：第一连接端、第二连接端、采样模块、开关模块以及校准控制模块；其中，

所述第一连接端和所述第二连接端分别用于连接数字通道的两个端子，且所述第一连接端和所述第二连接端短接；

所述采样模块的第一端与所述第一连接端子电性连接，第二端与所述开关模块电性连接；

所述校准控制模块包括输出校准单元、测量校准单元和控制单元；

所述开关模块分别与所述输出校准单元的输入端和输出端、所述测量校准单元的输出端、所述控制单元以及接地端电性连接；所述开关模块用于根据所述控制单元的第一控制信号，将所述输出校准单元的输入端和输出端并联于所述采样模块两端且所述接地端与所述采样模块的第二端接通；所述开关模块还用于根据所述控制单元的第二控制信号，将所述测量校准单元的输出端与所述采样模块的第二端接通。

在其中一些实施例中，所述采样模块包括可调阻值单元。

在其中一些实施例中，所述可调阻值单元包括第一电阻、第二电阻、第一开关以及第二开关，其中，

所述第一开关的第一端以及所述第二开关的第一端均与所述第一连接端子电性连接，所述第一开关的第二端与所述第一电阻的第一端电性连接，所述第二开关的第二端与所述第二电阻的第一端电性连接；