[发明专利]提高原子力显微镜非接触模式TERS信号的方法及装置在审

专利信息
申请号: 202010581202.5 申请日: 2020-06-23
公开(公告)号: CN111721750A 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 陈厚凯;张聿全;闵长俊;袁小聪 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G01Q60/38;G01Q70/08;G01Q70/14
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 张金福
地址: 518060 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 提高 原子 显微镜 接触 模式 ters 信号 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种提高原子力显微镜非接触模式TERS信号的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:

S1:将直接照射探针针尖的光束进行入射方向的调整,使光束先照射到探针的悬臂梁表面,经过悬臂梁反射后光束再照射探针尖端;

S2:对光束发散角进行控制,使探针在接触到基底表面时光束聚焦到探针尖端;

S3:调整聚焦光斑的偏振态,使沿探针轴向方向的偏振分量最大,以提高针尖局域电磁场的增强效率。

2.根据权利要求1所述的提高原子力显微镜非接触模式TERS信号的方法,其特征在于,在原子力显微镜接触模式下进行步骤S1和S2。

3.根据权利要求1所述的提高原子力显微镜非接触模式TERS信号的方法,其特征在于,在执行步骤S1-S3的同时制备单分子薄膜样品,并实时探测分子膜的拉曼信号强度以反馈针尖TERS增强效果,调整光束以实现最高的TERS增强效果。

4.根据权利要求1所述的提高原子力显微镜非接触模式TERS信号的方法,其特征在于,当进行TERS探测或点扫描成像时将原子力显微镜工作模式切换到非接触模式。

5.根据权利要求1所述的提高原子力显微镜非接触模式TERS信号的方法,所述方法应用在透射系统或TERS系统。

6.一种提高原子力显微镜非接触模式TERS信号的装置,其特征在于,包括:探针、样品扫描台、物镜系统、分光器件、光束调整系统、激发光源、拉曼光谱系统、原子力显微镜控制系统;

激发光源用来发出激发光束;激发光速可依次穿过光束调整系统、分光器件、物镜系统、样品扫描台而射到原子力显微镜探针上;

探针用来探测样品形貌与产生TERS增强效应;

样品扫描台用来控制样品移动;

物镜系统用来聚焦激发光与信号收集;

分光器件用来分离激发光与信号光;

光束调整系统实现激光偏振态、光束方向与汇聚发散方面的调控;

拉曼光谱系统用来收集拉曼光谱信号;

原子力显微镜控制系统可以与拉曼光谱系统进行双向联动控制,实现样品定位与光谱收集。

7.根据权利要求6所述的提高原子力显微镜非接触模式TERS信号的装置,其特征在于,所述原子力显微镜探针的下表面镀有电磁场增强介质。

8.根据权利要求7所述的提高原子力显微镜非接触模式TERS信号的装置,其特征在于,所述电磁场增强介质为金或银。

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