[发明专利]一种基于分通道感光的温度变形同步测量系统及方法有效
申请号: | 202010582330.1 | 申请日: | 2020-06-23 |
公开(公告)号: | CN111707381B | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 冯雪;岳孟坤;唐云龙;张金松;屈哲 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01J5/60 | 分类号: | G01J5/60;G01B11/16 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 通道 感光 温度 变形 同步 测量 系统 方法 | ||
本公开涉及一种基于分通道感光的温度变形同步测量系统及方法,其中,该系统包括:单点温度测量装置,用于测量被测物体表面的参考点温度;图像获取装置,用于获取被测物体表面图像;光学窗口集成装置,包括多个不同的光学窗口;同步控制装置,用于控制光学窗口集成装置切换光学窗口,并控制图像获取装置通过切换到的光学窗口获取被测物体表面图像;处理装置,用于在被测物体表面图像中提取不同光学通道的灰度值,并根据灰度值及参考点温度,得到被测物体表面的变形场及温度场。通过本公开,对高温环境下被测物体表面光学信息进行分通道感光、成像,避免了辐射光成像、反射光成像相互干扰,实现高温环境下温度场、变形场的高精度同步测量。
技术领域
本公开涉及光学测量技术领域,尤其涉及一种基于分通道感光的温度变形同步测量系统及方法。
背景技术
目前,在高温环境下对物体表面物理参数的非接触式光学测量时,针对物体表面的变形场、温度场的同步测量具有重要意义。然而,相关技术中,因辐射光成像、反射光成像存在相互干扰,影响了温度变形同步测量的精度。
发明内容
有鉴于此,本公开提出了一种基于分通道感光的温度变形同步测量系统、方法、装置及存储介质。
根据本公开的一方面,提供了一种基于分通道感光的温度变形同步测量系统,包括:
单点温度测量装置,用于测量被测物体表面的参考点温度;
图像获取装置,用于获取被测物体表面图像;
光学窗口集成装置,包括多个不同的光学窗口;
同步控制装置,用于控制所述光学窗口集成装置切换光学窗口,并控制所述图像获取装置通过切换到的所述光学窗口获取所述被测物体表面图像;
处理装置,用于在所述被测物体表面图像中提取不同光学通道的灰度值,并根据所述灰度值及所述参考点温度,得到所述被测物体表面的变形场及温度场。
在一种可能的实现方式中,所述光学窗口设置有光学滤波片和/或光学衰减片。
在一种可能的实现方式中,所述光学窗口包括:红光窗口、绿光窗口、蓝光窗口;
所述红光窗口设置有光学衰减片,以及红光带通滤波片或截止波长在红光波段与绿光波段之间的短波截止滤波片;
所述绿光窗口设置有绿光带通滤波片以及与所述红光窗口相同衰减率的光学衰减片;
所述蓝光窗口设置有蓝光带通滤波片、截止波长在蓝光波段与绿光波段之间的长波截止滤波片、光学衰减片、全光谱光学玻璃中的至少一种。
在一种可能的实现方式中,所述红光窗口与所述绿光窗口的光学衰减片,均包括:固定衰减率的光学衰减片和/或电致衰减率变化的光学衰减片。
在一种可能的实现方式中,所述蓝光窗口设置有两个蓝光带通滤波片,用于在加热过程中最高温度大于第一阈值且温度变化范围大于第二阈值的情况下所述图像获取装置通过该蓝光窗口获取所述被测物体表面图像;
或者,所述蓝光窗口设置有蓝光带通滤波片和光学衰减片,用于在加热过程中最高温度大于第三阈值且温度变化范围小于第四阈值的情况下所述图像获取装置通过该蓝光窗口获取所述被测物体表面图像;
或者,所述蓝光窗口设置有蓝光带通滤波片和全光谱光学玻璃,用于在加热过程中最高温度小于第五阈值的情况下所述图像获取装置通过该蓝光窗口获取所述被测物体表面图像。
在一种可能的实现方式中,所述系统还包括:
驱动装置,用于在所述同步控制装置的控制下,驱动所述光学窗口集成装置旋转,以切换所述光学窗口集成装置的光学窗口;
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