[发明专利]集成电路频率响应频率点提取与响应曲线计算方法及装置有效
申请号: | 202010587561.1 | 申请日: | 2020-06-24 |
公开(公告)号: | CN111898333B | 公开(公告)日: | 2021-12-10 |
发明(设计)人: | 唐章宏;邹军;王芬;汲亚飞;黄承清 | 申请(专利权)人: | 北京智芯仿真科技有限公司 |
主分类号: | G06F30/39 | 分类号: | G06F30/39 |
代理公司: | 深圳市行一知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 44453 | 代理人: | 杨贤 |
地址: | 100000 北京市海淀区信*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集成电路 频率响应 频率 提取 响应 曲线 计算方法 装置 | ||
本申请实施例公开了集成电路频率响应频率点提取与响应曲线计算方法及装置。该方法包括根据超大规模集成电路频域仿真的频率响应的计算需求,在预设频段范围内计算集成电路的谐振频率点及其频率响应,基于谐振频率点将预设频段划分为多个子频段,根据每个子频段的切比雪夫多项式零点获取非均匀频率点,进而计算该非均匀频率点的频率响应,通过插值获得预设频段范围内集成电路的频率响应曲线。本申请可实现提取出满足计算精度要求的数量较少的非均匀频率点,且快速计算出集成电路频域仿真在预设频段内满足精度要求的频率响应曲线,避免难以检测出设计的超大规模集成电路的潜在性能问题。
技术领域
本发明涉及集成电路频域仿真领域,尤其涉及集成电路频率响应频率点提取与响应曲线计算方法及装置。
背景技术
集成电路已经在各行各业中发挥着非常重要的作用,是现代信息社会的基石。它是一种微型电子器件或部件,采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构。在集成电路的各单元电路间、PCB及微波多芯片组件(MMCM,Microwave Multi-Chip Module)的各芯片间互连线将引起相当严重的寄生效应。同时,无论芯片或组件,为保护电路及支撑整个电路结构的封装部分不可避免,一些封装结构如馈电线或板、接地线或板、芯片引出焊线或带、多层金属板间的过孔等,对高速信号的传输也产生了非常明显的影响。
为研究集成电路的版图结构、集成电路多层金属板之间的过孔等连接对集成电路信号传输的影响,需要研究在某个频段范围内,集成电路多端口的频域响应,如多端口网络预设频段内的散射参数矩阵S随频率变化的曲线、阻抗矩阵Z随频率变化的曲线、传输矩阵T随频率变化的曲线等,根据端口的频域响应特征,确定集成电路的版图结构、集成电路多层金属板之间的过孔等连接对集成电路信号传输是否产生影响。现有的频域响应曲线的计算为研究在某个预设频段范围内,给出预设频段内均匀分布的扫描频率点,计算这些扫描频率点的频率响应值,将这些值连成曲线即可获得待计算的频率响应曲线。
然而,发明人在实施本发明的过程中发现,在现有的集成电路频域仿真提取均匀分布的扫描频率点中,满足指定的计算精度所需扫描频率点数量较多,相应计算量较大,计算效率差,与此同时在捕捉频域响应的细节方面效果差,因此导致计算出的超大规模集成电路在预设频段内的频率响应与实际的频率响应的误差较大,难以检测出设计的超大规模集成电路的潜在性能问题。
发明内容
本申请实施例提供了一种集成电路频率响应频率点提取与响应曲线计算方法及装置,可实现提取出满足计算精度要求的数量较少的非均匀频率点,且快速计算出集成电路频域仿真在预设频段内满足精度要求的频率响应曲线,避免难以检测出设计的超大规模集成电路的潜在性能问题。
第一方面,本申请实施例提供一种集成电路频率响应频率点提取与响应曲线计算方法,所述方法包括:
步骤100,根据超大规模集成电路频域仿真的频率响应的计算需求,采用谐振计算模式,计算超大规模集成电路在预设频段范围内的谐振频率点及其频率响应,并计算所述预设频段范围内起始频率点和终止频率点的频率响应;
步骤200,根据计算出的n个谐振频率点,连同所述起始频率点和终止频率点,将所述预设频段划分为n+1个子频段,其中,所述起始频率点、n个谐振频率点以及终止频率点依次构成各子频段的端点频率点;
步骤300,根据预先给定的超大规模集成电路频域仿真的计算精度以及每个子频段的端点频率点的频率响应,确定出从每个子频段中提取的扫描频率点个数m+1,并将m+1次切比雪夫多项式的零点对应的频率点设为所述每个子频段的扫描频率点;
步骤400,将所述每个子频段的扫描频率点作为提取出的非均匀频率点,并行计算超大规模集成电路在所述非均匀频率点处的频率响应;
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